| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 1 引言 | 第6-8页 |
| 2 Kumaraswamy分布的经验Bayes单侧检验问题 | 第8-14页 |
| 2.1 相关基础知识 | 第8-9页 |
| 2.2 EB检验函数的构造 | 第9-10页 |
| 2.3 主要结果 | 第10-12页 |
| 2.4 例子 | 第12-14页 |
| 3 屏蔽数据的贝叶斯估计 | 第14-28页 |
| 3.1 含有屏蔽数据的串联系统中Kumaraswamy分布部件可靠性指标 | 第14-19页 |
| 3.1.1 基本假设与极大似然估计 | 第14-15页 |
| 3.1.2 Bayes估计 | 第15-19页 |
| 3.2 基于屏蔽数据的部件可靠性指标的Bayes估计 | 第19-23页 |
| 3.2.1 基本假设及极大似然估计 | 第19-20页 |
| 3.2.2 Bayes估计 | 第20-23页 |
| 3.3 截尾情形下基于屏蔽数据的部件可靠性分析 | 第23-28页 |
| 3.3.1 基本假设与极大似然估计 | 第23-24页 |
| 3.3.2 Bayes估计 | 第24-28页 |
| 总结 | 第28-29页 |
| 参考文献 | 第29-33页 |
| 附录 攻读学位期间的研究成果 | 第33-34页 |
| 致谢 | 第34页 |