面向贴片机的图像处理关键技术研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第13-17页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第13-14页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第14-15页 |
| 1.3 课题来源及主要研究内容 | 第15-16页 |
| 1.4 本章小结 | 第16-17页 |
| 第二章 图像处理基础理论研究 | 第17-34页 |
| 2.1 图像滤波 | 第17-21页 |
| 2.1.1 中值滤波 | 第17-18页 |
| 2.1.2 均值滤波 | 第18-19页 |
| 2.1.3 高斯滤波 | 第19-20页 |
| 2.1.4 实验结果分析 | 第20-21页 |
| 2.2 图像阈值分割 | 第21-26页 |
| 2.2.1 图像分割定义 | 第21-22页 |
| 2.2.2 迭代阂值分割法 | 第22-23页 |
| 2.2.3 最大类间方差阈值分割法 | 第23-24页 |
| 2.2.4 最大熵阈值分割法 | 第24页 |
| 2.2.5 实验结果分析 | 第24-26页 |
| 2.3 图像形态学 | 第26-28页 |
| 2.3.1 腐蚀 | 第26页 |
| 2.3.2 膨胀 | 第26-27页 |
| 2.3.3 形态学开、闭运算 | 第27-28页 |
| 2.3.4 形态学运算实验结果 | 第28页 |
| 2.4 图像边缘提取 | 第28-33页 |
| 2.4.1 边缘检测梯度理论 | 第29-30页 |
| 2.4.2 Roberts边缘检测 | 第30页 |
| 2.4.3 Sobel边缘检测算子 | 第30页 |
| 2.4.4 Laplace算子 | 第30-31页 |
| 2.4.5 Canny边缘检测算法 | 第31-32页 |
| 2.4.6 各边缘检测算子的优劣分析 | 第32-33页 |
| 2.5 本章小结 | 第33-34页 |
| 第三章 关键特征点提取算法研究 | 第34-47页 |
| 3.1 Mark点定位识别 | 第34-38页 |
| 3.1.1 标志点概述 | 第34页 |
| 3.1.2 PCB中Mark的快速精准定位算法 | 第34-37页 |
| 3.1.3 基于最圆椭圆度的Mark点识别实验 | 第37-38页 |
| 3.2 IC芯片的匹配定位 | 第38-46页 |
| 3.2.1 图像匹配的一般流程及关键要素 | 第38-39页 |
| 3.2.2 常见模板匹配方法研究 | 第39-43页 |
| 3.2.3 基于形状匹配的改进算法研究 | 第43-46页 |
| 3.3 本章小结 | 第46-47页 |
| 第四章 SMD缺陷检测算法研究 | 第47-62页 |
| 4.1 飞行对中技术 | 第47-48页 |
| 4.2 电阻电容识别算法 | 第48-52页 |
| 4.2.1 最小面积外接矩形算法 | 第48-49页 |
| 4.2.2 电阻电容识别流程算法 | 第49-50页 |
| 4.2.3 实验结果分析 | 第50-52页 |
| 4.3 对称多引脚IC识别算法 | 第52-59页 |
| 4.3.1 对称多引脚IC基本流程 | 第52-53页 |
| 4.3.2 基于定向形态学的IC管脚修复 | 第53-55页 |
| 4.3.3 对称多引脚IC缺陷检测算法 | 第55-58页 |
| 4.3.4 实验结果分析 | 第58-59页 |
| 4.4 BGA芯片识别算法 | 第59-61页 |
| 4.4.1 BGA芯片识别基本流程 | 第59-60页 |
| 4.4.2 实验结果 | 第60-61页 |
| 4.5 本章小结 | 第61-62页 |
| 第五章 SMD缺陷检测系统的设计与实现 | 第62-70页 |
| 5.1 芯片缺陷检测系统的检测流程 | 第62-64页 |
| 5.2 检测系统的软件设计 | 第64-67页 |
| 5.2.1 软件框架分析 | 第64-65页 |
| 5.2.2 应用软件界面介绍 | 第65-67页 |
| 5.3 系统案例应用 | 第67-69页 |
| 5.4 本章小结 | 第69-70页 |
| 总结 | 第70-72页 |
| 参考文献 | 第72-76页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第76-78页 |
| 致谢 | 第78页 |
