射频噪声抑制片评价方法及介电材料介电特性的同轴探头法测量技术研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-14页 |
| 1.2.1 功能材料电磁特性的射频评估技术 | 第11-13页 |
| 1.2.2 开口同轴探头法测量技术 | 第13-14页 |
| 1.3 论文研究内容及意义 | 第14-15页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第15-16页 |
| 第二章 磁性材料的损耗机理及同轴线理论 | 第16-26页 |
| 2.1 功能材料的复介电常数和复磁导率 | 第16-17页 |
| 2.2 噪声抑制片的损耗机理 | 第17-23页 |
| 2.2.1 磁滞效应 | 第18页 |
| 2.2.2 涡流效应 | 第18-20页 |
| 2.2.3 畴壁共振 | 第20-21页 |
| 2.2.4 铁磁共振 | 第21-23页 |
| 2.3 同轴线的基本理论 | 第23-25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 噪声抑制片的电磁特性及评估技术 | 第26-52页 |
| 3.1 测试原理 | 第26-27页 |
| 3.2 耦合衰减和传输衰减测试装置设计 | 第27-30页 |
| 3.2.1 环天线的设计 | 第27-29页 |
| 3.2.2 测试装置的设计 | 第29-30页 |
| 3.3 微带线理论及测试装置设计 | 第30-33页 |
| 3.3.1 微带线的基本结构 | 第30-32页 |
| 3.3.2 微带线的传输特性 | 第32页 |
| 3.3.3 微带线的制作 | 第32-33页 |
| 3.3.4 测试装置设计 | 第33页 |
| 3.4 仿真软件和试验仪器简介 | 第33-34页 |
| 3.4.1 CST仿真软件简介 | 第33-34页 |
| 3.4.2 矢量网络分析仪简介 | 第34页 |
| 3.5 实验装置的仿真 | 第34-39页 |
| 3.5.1 耦合衰减和传输衰减的仿真 | 第34-38页 |
| 3.5.2 微带线模型仿真 | 第38-39页 |
| 3.6 实验装置的测试 | 第39-43页 |
| 3.6.1 耦合衰减R_(da)测试 | 第39-40页 |
| 3.6.2 传输衰减R_(de)测试 | 第40-41页 |
| 3.6.3 功率损耗R_(tp)测试 | 第41-43页 |
| 3.7 实验装置的动态范围分析 | 第43-45页 |
| 3.8 实验装置的不确定度评定 | 第45-48页 |
| 3.8.1 计算A类评定不确定度 | 第46页 |
| 3.8.2 计算B类评定不确定度 | 第46-48页 |
| 3.8.3 计算扩展不确定度 | 第48页 |
| 3.9 实际应用 | 第48-49页 |
| 3.10 本章小结 | 第49-52页 |
| 第四章 介电材料介电特性的同轴探头法测量技术 | 第52-65页 |
| 4.1 开口同轴探头测量法简介 | 第52-53页 |
| 4.2 开口同轴探头的设计要求 | 第53页 |
| 4.2.1 同轴传输线设计 | 第53页 |
| 4.2.2 法兰设计 | 第53页 |
| 4.3 开口同轴探头的谱域建模 | 第53-60页 |
| 4.3.1 开口同轴探头的建模和仿真 | 第54-58页 |
| 4.3.2 实验测试 | 第58-60页 |
| 4.4 反演算法——非线性方程(组)优化迭代算法 | 第60-63页 |
| 4.5 测试系统不确定度分析 | 第63-64页 |
| 4.6 本章小结 | 第64-65页 |
| 第五章 总结与展望 | 第65-67页 |
| 5.1 总结 | 第65页 |
| 5.2 展望 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-71页 |
| 作者简介 | 第71页 |
