基于SPGD算法的纯相位光学防伪掩膜设计
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-15页 |
| 1.1 课题研究的背景和意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状综述 | 第11-13页 |
| 1.3 课题的研究内容 | 第13-15页 |
| 第2章 纯相位光学防伪掩膜的原理和设计工艺 | 第15-23页 |
| 2.1 纯相位光学防伪掩膜的物理特性 | 第15-18页 |
| 2.1.1 纯相位光学防伪掩膜的概念 | 第15-16页 |
| 2.1.2 衍射光学中相位的采样与量化 | 第16-18页 |
| 2.2 纯相位光学防伪掩膜的设计制作 | 第18-22页 |
| 2.2.1 衍射光学元件的迭代方法 | 第18-19页 |
| 2.2.2 相位浮雕的类型及其加工 | 第19-22页 |
| 2.3 相息图恢复质量的衡量标准 | 第22页 |
| 2.4 本章小结 | 第22-23页 |
| 第3章 相位防伪掩膜设计方法基础 | 第23-43页 |
| 3.1 基于GS算法的相位防伪掩膜设计 | 第23-30页 |
| 3.1.1 GS相位恢复算法 | 第23-26页 |
| 3.1.2 基于GS算法的相位恢复算法仿真及分析 | 第26-30页 |
| 3.2 基于POCS算法的相位防伪掩膜设计 | 第30-35页 |
| 3.2.1 POCS相位恢复算法 | 第30-32页 |
| 3.2.2 用POCS算法实现图像恢复的仿真 | 第32-35页 |
| 3.3 SPGD算法工作原理 | 第35-42页 |
| 3.3.1 梯度下降算法 | 第35-37页 |
| 3.3.2 SPGD算法 | 第37-40页 |
| 3.3.3 SPGD算法收敛性分析 | 第40-42页 |
| 3.4 本章小结 | 第42-43页 |
| 第4章 基于SPGD的相位恢复算法 | 第43-53页 |
| 4.1 基于SPGD-GS算法的相位恢复算法 | 第43-47页 |
| 4.1.1 SPGD-GS算法的工作原理 | 第43-46页 |
| 4.1.2 SPGD-GS算法仿真结果及分析 | 第46-47页 |
| 4.2 基于SPGD-POCS相位恢复算法 | 第47-52页 |
| 4.2.1 SPGD-POCS算法的工作原理 | 第47-50页 |
| 4.2.2 SPGD-POCS算法仿真结果及分析 | 第50-52页 |
| 4.3 本章小结 | 第52-53页 |
| 第5章 基于CSPGD的相位恢复算法 | 第53-64页 |
| 5.1 基于CSPGD-GS相位恢复算法 | 第53-57页 |
| 5.1.1 CSPGD-GS算法的工作原理 | 第53-55页 |
| 5.1.2 CSPGD-GS算法仿真结果及分析 | 第55-57页 |
| 5.2 基于CSPGD-POCS相位恢复算法 | 第57-63页 |
| 5.2.1 CSPGD-POCS算法工作原理 | 第57-59页 |
| 5.2.2 计算机仿真结果及分析 | 第59-63页 |
| 5.3 本章小结 | 第63-64页 |
| 结论 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 作者简介 | 第69页 |
