| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| ·引言 | 第10页 |
| ·光催化材料的研究现状 | 第10页 |
| ·单质光催化材料 | 第10-12页 |
| ·本论文的研究内容与意义 | 第12-14页 |
| ·单质材料薄膜的制备及光催化行为研究 | 第12-13页 |
| ·探究三种单质光催化材料(Se、Bi、Sn)的催化机理 | 第13页 |
| ·研究意义 | 第13-14页 |
| 第二章 单质Se的光催化性能研究 | 第14-32页 |
| ·前言 | 第14页 |
| ·实验部分 | 第14-17页 |
| ·实验药品及仪器 | 第14-15页 |
| ·实验过程 | 第15-17页 |
| ·薄膜样品表征及分析方法 | 第17-18页 |
| ·X射线衍射(XRD) | 第17页 |
| ·扫描电子显微镜(SEM) | 第17页 |
| ·能量色散X射线光谱(EDXS) | 第17页 |
| ·紫外-可见漫反射光谱(UV-Vis DRS) | 第17页 |
| ·拉曼光谱(Raman spectra) | 第17页 |
| ·X射线光电子能谱(XPS) | 第17-18页 |
| ·电子顺磁共振(EPR) | 第18页 |
| ·结果与讨论 | 第18-30页 |
| ·Se薄膜样品的物相分析与形貌表征 | 第18-20页 |
| ·Se薄膜的光电特性测试 | 第20-28页 |
| ·Se薄膜的光催化活性评价 | 第28-30页 |
| ·本章小结 | 第30-32页 |
| 第三章 单质Bi的光催化性能研究 | 第32-58页 |
| ·前言 | 第32页 |
| ·实验部分 | 第32-35页 |
| ·实验药品及仪器 | 第32-33页 |
| ·实验过程 | 第33-35页 |
| ·薄膜样品表征及分析方法 | 第35-37页 |
| ·X射线衍射(XRD) | 第35页 |
| ·扫描电子显微镜(SEM) | 第35-36页 |
| ·透射电子显微镜、高分辨透射电子显微镜及选区电子衍射(TEM、HRTEM、SAED) | 第36页 |
| ·紫外-可见漫反射光谱(UV-Vis DRS) | 第36页 |
| ·X射线光电子能谱(XPS) | 第36页 |
| ·电子顺磁共振(EPR) | 第36页 |
| ·热重-差热分析仪(TG-DSC) | 第36页 |
| ·理论计算 | 第36-37页 |
| ·结果与讨论 | 第37-56页 |
| ·电化学沉积Bi薄膜 | 第37-49页 |
| ·磁控溅射沉积Bi薄膜 | 第49-56页 |
| ·本章小结 | 第56-58页 |
| 第四章 单质Sn的光催化性能研究 | 第58-74页 |
| ·前言 | 第58页 |
| ·金属光催化材料 | 第58页 |
| ·实验部分 | 第58-61页 |
| ·实验药品及仪器 | 第58-59页 |
| ·实验过程 | 第59-61页 |
| ·薄膜样品表征及分析方法 | 第61-62页 |
| ·X射线衍射(XRD) | 第61页 |
| ·扫描电子显微镜(SEM) | 第61页 |
| ·透射电子显微镜、高分辨透射电子显微镜及选区电子衍射(TEM、HRTEM、SAED) | 第61页 |
| ·紫外-可见漫反射光谱(UV-Vis DRS) | 第61页 |
| ·X射线光电子能谱(XPS) | 第61-62页 |
| ·电子顺磁共振(EPR) | 第62页 |
| ·结果与讨论 | 第62-73页 |
| ·不同沉积段数Sn薄膜样品的物相分析与形貌表征 | 第62-66页 |
| ·不同沉积段数Sn薄膜的光电特性测试 | 第66-68页 |
| ·不同沉积段数Sn薄膜的催化活性评价 | 第68-70页 |
| ·Sn薄膜的光电催化机理 | 第70-73页 |
| ·本章小结 | 第73-74页 |
| 第五章 结论与展望 | 第74-76页 |
| ·结论 | 第74-75页 |
| ·展望 | 第75-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
| 参考文献 | 第77-84页 |
| 攻读硕士学位期间发表论文 | 第84页 |
