基于机器视觉的电容屏非可视区引线缺陷检测方法研究
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-7页 |
1 绪论 | 第7-17页 |
·研究背景与研究目的 | 第7-8页 |
·国内外研究现状 | 第8-10页 |
·国外研究现状 | 第9-10页 |
·国内研究现状 | 第10页 |
·电容屏缺陷检测研究方法 | 第10-14页 |
·原理分析 | 第11-13页 |
·主要检测流程 | 第13-14页 |
·论文章节安排 | 第14-17页 |
2 图像预处理 | 第17-27页 |
·图像滤波 | 第17-21页 |
·均值滤波 | 第17-18页 |
·高斯滤波 | 第18页 |
·中值滤波 | 第18-19页 |
·基于梯度倒数加权法的中值滤波 | 第19-21页 |
·图像灰度化 | 第21-23页 |
·图像增强 | 第23-26页 |
·灰度变换 | 第23-24页 |
·直方图增强 | 第24-26页 |
·本章小结 | 第26-27页 |
3 缺陷检测 | 第27-35页 |
·引线的投影失真校正 | 第27-29页 |
·建立投影变换模型 | 第27-28页 |
·根据模型实施变换 | 第28-29页 |
·基于SIFT算法的图像匹配及其改进 | 第29-32页 |
·SIFT特征点的检测 | 第30页 |
·基于SIFT特征点的匹配及改进算法 | 第30-32页 |
·基于差影法的缺陷检测 | 第32-33页 |
·本章小结 | 第33-35页 |
4 缺陷分割 | 第35-59页 |
·镀层缺失引线缺陷的分割 | 第35-42页 |
·相位一致性原理 | 第35-37页 |
·非极大值抑制及边缘连接方案 | 第37-39页 |
·基于区域生长的分割 | 第39-41页 |
·基于引线面积的缺陷检测及提取 | 第41-42页 |
·有划伤引线缺陷的分割 | 第42-49页 |
·基于梯度的边缘检测 | 第43-47页 |
·基于Hough变换的缺陷检测 | 第47-49页 |
·有短路引线缺陷的分割 | 第49-53页 |
·图像二值化分割 | 第49-52页 |
·缺陷区域检测 | 第52-53页 |
·有黑点引线缺陷的分割 | 第53-56页 |
·有断线引线缺陷的分割 | 第56-58页 |
·本章小结 | 第58-59页 |
5 分类识别 | 第59-73页 |
·特征提取 | 第59-63页 |
·几何特征 | 第59-60页 |
·形状特征 | 第60-61页 |
·不变矩 | 第61-63页 |
·缺陷识别 | 第63-72页 |
·统计模式识别 | 第64-69页 |
·基于改进的KNN分类器的缺陷识别 | 第69-72页 |
·本章小结 | 第72-73页 |
6 总结与展望 | 第73-75页 |
·工作总结 | 第73-74页 |
·展望 | 第74-75页 |
致谢 | 第75-77页 |
参考文献 | 第77-80页 |