基于数字处理技术的高速高精度ADC动态测试系统设计与实现
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·课题研究背景 | 第7-8页 |
| ·论文研究内容 | 第8-9页 |
| ·论文研究目标 | 第9-10页 |
| ·论文章节安排 | 第10-11页 |
| 第二章 ADC 的动态参数及测试技术 | 第11-19页 |
| ·ADC 的主要动态参数 | 第11-13页 |
| ·信噪比 | 第11-12页 |
| ·总谐波失真 | 第12页 |
| ·无杂散动态范围 | 第12-13页 |
| ·信号与噪声失真比 | 第13页 |
| ·有效位数 | 第13页 |
| ·双音互调失真 | 第13页 |
| ·ADC 动态参数测试技术 | 第13-18页 |
| ·ADC 的测试激励产生方法 | 第13-15页 |
| ·拍频测试法 | 第15页 |
| ·正弦拟合法 | 第15页 |
| ·FFT 测试法 | 第15-18页 |
| ·本章小结 | 第18-19页 |
| 第三章 ADC 测试系统硬件设计 | 第19-37页 |
| ·ADC 测试系统硬件结构 | 第19-20页 |
| ·ADC 支持模块 | 第20-24页 |
| ·高速数据采集模块 | 第24-30页 |
| ·电平转换模块 | 第24-26页 |
| ·数据缓存模块 | 第26-28页 |
| ·USB 传输模块 | 第28-30页 |
| ·低相噪时钟模块 | 第30-31页 |
| ·MCU 控制模块 | 第31-32页 |
| ·ADC 测试系统的印刷电路板设计 | 第32-36页 |
| ·ADC 支持板设计 | 第32-35页 |
| ·数据采集电路板设计 | 第35-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第四章 ADC 测试系统软件设计 | 第37-49页 |
| ·ADC 测试系统软件的主要功能模块的划分 | 第37页 |
| ·ADC 测试系统的芯片控制程序设计 | 第37-46页 |
| ·FPGA 程序设计 | 第37-44页 |
| ·USB 接口固件程序设计 | 第44-45页 |
| ·MCU 控制程序设计 | 第45-46页 |
| ·ADC 测试系统 PC 程序实现 | 第46-49页 |
| ·USB 驱动和数据接收程序 | 第46-48页 |
| ·Matlab 程序设计 | 第48-49页 |
| 第五章 ADC 测试系统的实现及测试数据分析 | 第49-58页 |
| ·ADC 测试系统的实现 | 第49页 |
| ·测试方案 | 第49-51页 |
| ·测试步骤 | 第51-52页 |
| ·测试数据分析 | 第52-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第六章 结论与展望 | 第58-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-63页 |
