| 摘要 | 第1-10页 |
| ABSTRACT | 第10-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-25页 |
| ·研究背景与意义 | 第12-16页 |
| ·研究背景 | 第12-14页 |
| ·研究意义 | 第14-16页 |
| ·国内外相关研究综述 | 第16-22页 |
| ·经典可靠性统计验证试验设计方法研究现状 | 第16-17页 |
| ·Bayes 可靠性统计验证试验设计方法研究现状 | 第17-21页 |
| ·现有研究中存在的缺陷和不足 | 第21-22页 |
| ·论文的主要研究内容与创新点 | 第22-25页 |
| ·研究内容和组织结构 | 第22-23页 |
| ·论文工作及主要的创新 | 第23-25页 |
| 第二章 Bayes装备可靠性统计验证试验设计基础模型 | 第25-32页 |
| ·BTDM 模型构建 | 第25-27页 |
| ·统计假设的建立和决策法则的推导 | 第25-26页 |
| ·基于试验损失的BTDM 模型 | 第26-27页 |
| ·平均风险准则和验后风险准则下两类风险的计算与对比 | 第27-30页 |
| ·平均风险准则（Average Risk Criteria） | 第27-28页 |
| ·验后风险准则（Posterior Risk Criteria） | 第28-29页 |
| ·两类风险准则的对比分析 | 第29-30页 |
| ·BTDM 模型的求解 | 第30-31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 正态分布统计验证试验设计Bayes建模 | 第32-46页 |
| ·BTDM-N 模型的构建 | 第32-36页 |
| ·正态分布参数的假设检验与决策法则 | 第32-34页 |
| ·BTDM-N 的建立 | 第34-36页 |
| ·正态分布可靠性验证试验两类风险的计算 | 第36-39页 |
| ·正态分布基于平均风险准则的两类风险计算 | 第36-37页 |
| ·正态分布基于验后风险准则的两类风险计算 | 第37-39页 |
| ·BTDM-N 模型的求解 | 第39-44页 |
| ·BTDM-N 模型的求解思路 | 第39-40页 |
| ·BTDM-N 模型的算例分析 | 第40-44页 |
| ·本章小结 | 第44-46页 |
| 第四章 二项分布统计验证试验设计Bayes建模 | 第46-61页 |
| ·BTDM-B 模型的构建 | 第46-47页 |
| ·二项分布统计验证试验设计的假设检验 | 第46页 |
| ·BTDM-B 模型的建立 | 第46-47页 |
| ·二项分布抽样检验中两类风险的计算 | 第47-53页 |
| ·二项分布基于平均风险准则的两类风险计算 | 第47-51页 |
| ·二项分布基于验后风险准则的两类风险计算 | 第51-53页 |
| ·BTDM-B 模型的求解 | 第53-60页 |
| ·可靠性试验方案(n , c ) 中c 的临界值的推导 | 第53-56页 |
| ·BTDM-B 模型的求解步骤 | 第56-57页 |
| ·BTDM-B 模型的算例分析 | 第57-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 第五章 指数分布统计验证试验设计Bayes建模 | 第61-78页 |
| ·BTDM-E 模型的构建 | 第61-63页 |
| ·指数型产品可靠性指标假设检验的统计假设 | 第61页 |
| ·指数型产品统计验证试验方案的设计模型 | 第61-63页 |
| ·指数分布基于抽样检验的两类风险的计算 | 第63-70页 |
| ·指数分布基于平均风险准则的两类风险计算 | 第63-67页 |
| ·指数分布基于验后风险准则的两类风险计算 | 第67-70页 |
| ·BTDM-E 模型的求解 | 第70-77页 |
| ·最短试验截止时间T_(min) 的计算 | 第70-73页 |
| ·试验损失最小的试验方案的求解步骤 | 第73-74页 |
| ·BTDM-E 模型的算例分析 | 第74-77页 |
| ·本章小结 | 第77-78页 |
| 第六章 结论与展望 | 第78-80页 |
| ·论文的主要工作 | 第78-79页 |
| ·需进一步研究的问题 | 第79-80页 |
| 致谢 | 第80-81页 |
| 参考文献 | 第81-85页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第85页 |
