摘要 | 第1-13页 |
ABSTRACT | 第13-16页 |
第一章 绪论 | 第16-39页 |
·晶体及其应用 | 第16-17页 |
·目前主要功能晶体 | 第17-18页 |
·晶体研究的方向 | 第18-19页 |
·二阶姜—泰勒效应与新材料 | 第19-27页 |
·BaTeMo_2O_9晶体研究进展 | 第27-31页 |
·本论文的主要研究内容 | 第31-33页 |
参考文献 | 第33-39页 |
第二章 晶体生长 | 第39-45页 |
·引言 | 第39页 |
·晶体结构分析 | 第39-40页 |
·多晶合成 | 第40-41页 |
·晶体生长 | 第41页 |
·本章小结 | 第41-43页 |
参考文献 | 第43-45页 |
第三章 BaTeMo_2O_9晶体的介电、压电和弹性性质 | 第45-75页 |
·引言 | 第45-46页 |
·压电晶体研究现状 | 第46-48页 |
·压电方程和压电系数 | 第48-50页 |
·压电振动模式 | 第50-53页 |
·横向长度振动模式 | 第50-51页 |
·棒的纵向长度伸缩振动模式 | 第51页 |
·面切变振动模式 | 第51-52页 |
·厚度振动模式 | 第52-53页 |
·压电、介电和弹性性能测试 | 第53-67页 |
·测试方法介绍及选择 | 第53页 |
·坐标系的选择和样品的制备 | 第53-56页 |
·压电性质测试原理和实验数据 | 第56-62页 |
·最大压电系数理论分析与讨论 | 第62-64页 |
·温度对弹性系数的影响 | 第64-67页 |
·实验结果讨论 | 第67页 |
·压电性能的理论分析 | 第67-69页 |
·KTIOAsO_4晶体压电性能的测试 | 第69-71页 |
·本章小结 | 第71-73页 |
参考文献 | 第73-75页 |
第四章 晶体电光性能研究 | 第75-90页 |
·引言 | 第75-76页 |
·电光晶体研究现状 | 第76-78页 |
·电光性能研究 | 第78-85页 |
·线性电光效应描述及研究步骤 | 第78-81页 |
·电光坐标系的选择和样品的制备 | 第81-83页 |
·电光系数测量 | 第83-85页 |
·实验结果讨论 | 第85-86页 |
·电光性能初步分析 | 第86-87页 |
·本章小结 | 第87-88页 |
参考文献 | 第88-90页 |
第五章 晶体热释电性能研究 | 第90-102页 |
·引言 | 第90页 |
·热释电晶体研究现状 | 第90-92页 |
·热释电效应与晶体的对称性 | 第92页 |
·热释电晶体的分类 | 第92-93页 |
·热释电性能测试 | 第93-96页 |
·热释电测试方法 | 第93-94页 |
·热释电系数的测量 | 第94-96页 |
·实验结果讨论 | 第96-98页 |
·本章小结 | 第98-100页 |
参考文献 | 第100-102页 |
第六章 压电器件设计和性能研究 | 第102-116页 |
·引言 | 第102页 |
·压电谐振器 | 第102-103页 |
·谐振器的设计与表征 | 第103-113页 |
·谐振器设计思路 | 第103-107页 |
·谐振器的制作和相关参数测试 | 第107-112页 |
·器件的性能分析 | 第112-113页 |
·本章小结 | 第113-115页 |
参考文献 | 第115-116页 |
第七章 低对称晶体张量的研究 | 第116-128页 |
·引言 | 第116页 |
·张量的定义及与晶体对称性的关系 | 第116-117页 |
·二阶张量的讨论 | 第117页 |
·三阶张量的讨论 | 第117-124页 |
·压电系数三阶张量的讨论 | 第117-120页 |
·电光系数三阶张量的讨论 | 第120-122页 |
·非线性系数三阶张量分析 | 第122-124页 |
·四阶张量的分析 | 第124-126页 |
·本章小结 | 第126-127页 |
参考文献 | 第127-128页 |
第八章 总结与有待深入研究的内容 | 第128-132页 |
·主要内容 | 第128-130页 |
·主要创新点 | 第130页 |
·有待深入研究的内容 | 第130-132页 |
攻读学位期间发表的学术论文 | 第132-133页 |
参加会议 | 第133-134页 |
攻读学位期间所获奖励 | 第134-135页 |
致谢 | 第135-136页 |
发表论文 | 第136-143页 |
学位论文评阅及答辩情况表 | 第143页 |