| 中文摘要 | 第1-14页 |
| ABSTRACT | 第14-16页 |
| 第一章 分子组装膜的研究进展 | 第16-27页 |
| ·分子自组装膜的简介 | 第16-17页 |
| ·分子自组装膜的概念 | 第16页 |
| ·分子自组装膜的发展 | 第16-17页 |
| ·分子自组装膜的成膜机理、结构和特点 | 第17-18页 |
| ·自组装膜的形成机理 | 第17页 |
| ·分子自组装膜结构 | 第17页 |
| ·分子自组装膜的特点 | 第17-18页 |
| ·分子自组装膜的分类 | 第18-20页 |
| ·烷基硫醇类SAMs | 第18页 |
| ·有机硅烷类SAMs | 第18-19页 |
| ·脂肪酸类SAMs | 第19-20页 |
| ·其它自组装体系 | 第20页 |
| ·分子自组装膜的影响因素 | 第20-22页 |
| ·基底性质的影响 | 第20页 |
| ·表面预处理的影响 | 第20-21页 |
| ·分子结构的影响 | 第21页 |
| ·溶剂的影响 | 第21-22页 |
| ·分子自组装膜的表征方法 | 第22-23页 |
| ·循环伏安法(CV) | 第22页 |
| ·交流阻抗法(AC) | 第22页 |
| ·差分脉冲伏安法(DPV) | 第22-23页 |
| ·自组装分子膜的应用 | 第23-25页 |
| ·电催化 | 第23页 |
| ·表面改性技术 | 第23-24页 |
| ·分子识别 | 第24页 |
| ·离子选择性电极 | 第24页 |
| ·生物传感器 | 第24-25页 |
| ·课题的目的意义、研究内容及创新点 | 第25-27页 |
| ·目的和意义 | 第25页 |
| ·研究内容 | 第25-26页 |
| ·创新点 | 第26-27页 |
| 第二章 实验部分 | 第27-29页 |
| ·试剂和溶液 | 第27页 |
| ·电化学仪器 | 第27页 |
| ·实验方法 | 第27-29页 |
| 第三章 L-半胱氨酸自组装膜的研究 | 第29-37页 |
| ·结果与讨论 | 第29-36页 |
| ·铜电极的处理 | 第29-30页 |
| ·裸铜电极的表征 | 第30-31页 |
| ·L-Cys/Cu自组装膜的电化学性质 | 第31页 |
| ·L-半胱氨酸在铜电极上自组装机理的分析 | 第31-32页 |
| ·L-半胱氨酸自组装膜致密性与组装时间的关系 | 第32-33页 |
| ·L-半胱氨酸自组装膜的致密性与浓度的关系 | 第33-34页 |
| ·温度对L-半胱氨酸自组装膜电极电化学行为的影响 | 第34页 |
| ·支持电解质选择和底液pH的影响 | 第34-35页 |
| ·扫描速度对峰电流的影响 | 第35-36页 |
| ·L-半胱氨酸自组装膜电极的稳定性测试 | 第36页 |
| ·小结 | 第36-37页 |
| 第四章 L-半胱氨酸电化学组装膜的研究 | 第37-46页 |
| ·结果与讨论 | 第37-45页 |
| ·L-Cys/Cu电化学组装膜的电化学性质 | 第37-38页 |
| ·连续扫描周数与膜致密性的关系 | 第38-39页 |
| ·L-半胱氨酸电化学组装膜致密性与组装时间的关系 | 第39-40页 |
| ·L-半胱氨酸电化学组装膜致密性与组装液浓度的关系 | 第40-41页 |
| ·温度对L-半胱氨酸电化学组装膜电极电化学行为的影响 | 第41-42页 |
| ·支持电解质选择和底液pH的影响 | 第42-43页 |
| ·扫描速度对氧化峰电流的影响 | 第43-44页 |
| ·L-半胱氨酸电化学组装膜电极的稳定性测试 | 第44-45页 |
| ·小结 | 第45-46页 |
| 第五章 L-半胱氨酸自组装膜和电化学组装膜覆盖度的研究 | 第46-55页 |
| ·结果与讨论 | 第46-54页 |
| ·电化学交流阻抗(EIS)谱 | 第46-48页 |
| ·拟合结果与覆盖度 | 第48-52页 |
| ·L-半胱氨酸在金属铜表面上的成膜过程考察 | 第52-54页 |
| ·小结 | 第54-55页 |
| 第六章 L-半胱氨酸自组装膜对抗坏血酸的电催化作用 | 第55-61页 |
| ·结果与讨论 | 第55-60页 |
| ·底液pH值对抗坏血酸电催化性能的影响 | 第55-56页 |
| ·静置时间对抗坏血酸电催化氧化响应的影响 | 第56-57页 |
| ·富集电位对抗坏血酸电催化氧化响应的影响 | 第57页 |
| ·富集时间对抗坏血酸电催化氧化响应的影响 | 第57-58页 |
| ·L-半胱氨酸自组装膜电极对抗坏血酸的电催化作用 | 第58-59页 |
| ·L-半胱氨酸自组装膜电极对抗坏血酸的催化机理的初步探讨 | 第59页 |
| ·线性范围分析 | 第59页 |
| ·干扰实验 | 第59-60页 |
| ·小结 | 第60-61页 |
| 第七章 L-半胱氨酸电化学组装膜对抗坏血酸的电催化作用 | 第61-67页 |
| ·结果与讨论 | 第61-66页 |
| ·底液pH值对抗坏血酸电催化性能的影响 | 第61-62页 |
| ·静置时间对抗坏血酸电催化氧化响应的影响 | 第62-63页 |
| ·富集电位对抗坏血酸电催化氧化响应的影响 | 第63页 |
| ·富集时间对抗坏血酸电催化氧化响应的影响 | 第63-64页 |
| ·L-半胱氨酸电化学组装膜电极对抗坏血酸的电催化作用 | 第64-65页 |
| ·L-Cys电化学组装膜电极对抗坏血酸的催化机理的初步探讨 | 第65页 |
| ·线性范围分析 | 第65页 |
| ·干扰实验 | 第65-66页 |
| ·小结 | 第66-67页 |
| 第八章 总结与展望 | 第67-69页 |
| ·研究总结 | 第67-68页 |
| ·展望 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-86页 |
| 攻读学位期间取得的研究成果 | 第86-87页 |
| 致谢 | 第87-88页 |
| 个人简况及联系方式 | 第88-90页 |
