| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第一章 前言 | 第8-14页 |
| ·VFD 介绍 | 第8-11页 |
| ·VFD的驱动方式 | 第10-11页 |
| ·VFD的一般特点 | 第11页 |
| ·VFD应用范围 | 第11-14页 |
| 第二章 VFD驱动控制芯片XP002 设计要求确定 | 第14-28页 |
| ·市场上VFD驱动芯片介绍 | 第14-15页 |
| ·XP002 设计规范 | 第15-28页 |
| ·功能指标 | 第15-16页 |
| ·管脚定义 | 第16-17页 |
| ·电气规格 | 第17-19页 |
| ·控制命令定义 | 第19-28页 |
| 第三章 芯片电路模块设计 | 第28-52页 |
| ·功能块划分 | 第28-29页 |
| ·Power Control 模块设计 | 第29-39页 |
| ·处理的四种遥控码定义 | 第29-34页 |
| ·模块间的联系定义 | 第34-37页 |
| ·测试电路设计 | 第37页 |
| ·自动化设计流程 | 第37-39页 |
| ·VFD控制电路的全定制设计 | 第39-52页 |
| ·复位电路设计 | 第40-43页 |
| ·端口电路设计 | 第43-47页 |
| ·高压部分电路设计 | 第47-52页 |
| 第四章 芯片版图设计 | 第52-80页 |
| ·版图设计规则说明及规则修改 | 第52-54页 |
| ·整体布局设计 | 第54-60页 |
| ·冗余电路设计 | 第60页 |
| ·ESD结构分析及设计 | 第60-73页 |
| ·ESD产生机理和防护途径 | 第60-73页 |
| ·后仿真 | 第73-80页 |
| 第五章 芯片测试及应用 | 第80-90页 |
| ·芯片ESD/LATCH-UP 测试 | 第80-86页 |
| ·Latch-Up 总结 | 第85-86页 |
| ·芯片电气性能测试 | 第86-90页 |
| 第六章 后语 | 第90-94页 |
| ·结论 | 第90-91页 |
| ·展望 | 第91-94页 |
| 致谢 | 第94-96页 |
| 参考文献 | 第96-98页 |
| 研究成果 | 第98页 |