基于SiGe BiCMOS工艺的超高速模数转换器关键技术的研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| ·SiGe技术简介 | 第10-11页 |
| ·BiCMOS工艺技术及特点 | 第11-12页 |
| ·模数转换器简介 | 第12-13页 |
| ·论文的主要工作及组织结构 | 第13-14页 |
| 第二章 模数转换器的基本原理 | 第14-28页 |
| ·A/D转换器的历史 | 第14-15页 |
| ·A/D转换器的原理及性能指标 | 第15-17页 |
| ·高速、高精度A/D转换器的典型结构 | 第17-26页 |
| ·快闪型A/D转换器 | 第17-18页 |
| ·两步快闪型A/D转换器 | 第18-20页 |
| ·流水线A/D转换器 | 第20-22页 |
| ·内插型A/D转换器 | 第22-23页 |
| ·折叠型A/D转换器 | 第23-24页 |
| ·Σ-ΔA/D转换器 | 第24-26页 |
| ·本章小结 | 第26-28页 |
| 第三章 高速电压比较器 | 第28-38页 |
| ·A/D转换器的总体结构设计 | 第28-30页 |
| ·高速电压比较器 | 第30-37页 |
| ·全差分输入级结构 | 第30-33页 |
| ·主从式锁存器结构 | 第33-35页 |
| ·比较器的电路及仿真 | 第35-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 第四章 A/D转换器的外围电路 | 第38-58页 |
| ·采样/保持电路 | 第38-45页 |
| ·采样定理 | 第38-39页 |
| ·采样保持电路的基本结构 | 第39-40页 |
| ·电荷注入和时钟馈通效应 | 第40-41页 |
| ·开环结构的BiCMOS高速THA | 第41-45页 |
| ·模拟开关 | 第45-50页 |
| ·模拟开关基本原理和分类 | 第45-48页 |
| ·采用伪MOS管的CMOS开关 | 第48-50页 |
| ·电阻开关网络 | 第50-52页 |
| ·数字电路 | 第52-56页 |
| ·译码电路 | 第52-53页 |
| ·编码电路 | 第53-55页 |
| ·锁存器电路 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56-58页 |
| 第五章 版图设计 | 第58-62页 |
| ·总体布局设计 | 第58-59页 |
| ·部分电路版图 | 第59-62页 |
| 第六章 总结 | 第62-64页 |
| 致谢 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-68页 |
| 研究成果 | 第68-70页 |
| 附录A | 第70-72页 |
| 附录B | 第72-74页 |
| 附录C | 第74-76页 |
| 附录D | 第76-78页 |
| 附录E | 第78页 |
