XIR-稳压管漂移负荷台的研制
| 摘要 | 第1-20页 |
| ABSTRACT | 第20-21页 |
| 目录 | 第21-23页 |
| 第一章 绪论 | 第23-29页 |
| ·选题的背景及意义 | 第23页 |
| ·硅稳压二极管的分类 | 第23-24页 |
| ·稳压二极管电参数的测试原理 | 第24-25页 |
| ·硅稳压二极管的温度漂移、负荷试验 | 第24-25页 |
| ·硅稳压二极管的参数测试和必要性 | 第25页 |
| ·研究的主要内容及方案的设计 | 第25-28页 |
| ·稳压二极管的工作原理 | 第25-26页 |
| ·稳压二极管的主要技术参数 | 第26-27页 |
| ·研究的主要内容及方案的确定 | 第27-28页 |
| ·不同类型硅稳压二极管电参数的测试条件 | 第28-29页 |
| 第二章 恒流源的构成及种类 | 第29-47页 |
| ·恒流源的定义 | 第29-31页 |
| ·恒流源的定义 | 第29页 |
| ·理想恒流源和实际恒流源 | 第29-31页 |
| ·恒流源的应用 | 第31-33页 |
| ·在计量领域中的应用 | 第31页 |
| ·在半导体器件性能测试中的应用 | 第31-32页 |
| ·在传感器中的应用 | 第32页 |
| ·现代大型仪器中称定磁场的产生 | 第32页 |
| ·在其它领城中的应用 | 第32-33页 |
| ·恒流源的种类 | 第33-40页 |
| ·恒流源的构成 | 第33-37页 |
| ·用稳压源和电阻构成恒流源 | 第34-35页 |
| ·用恒流器件构成的恒流源 | 第35-36页 |
| ·用负反该放大器构成的恒流源 | 第36-37页 |
| ·恒流源的种类 | 第37-40页 |
| ·直接调整型恒流源 | 第37-38页 |
| ·间接调整型恒流源 | 第38-40页 |
| ·恒流源在半导体器件性能参数测试中的意义 | 第40-41页 |
| ·恒流源的发展历程 | 第41-42页 |
| ·电真空器件恒流禅的诞生 | 第41页 |
| ·晶体管恒流源的产生和分类 | 第41页 |
| ·集成电路恒流源的出现和种类 | 第41页 |
| ·恒流源的发展趋势展望 | 第41-42页 |
| ·恒流源的主要性能指标 | 第42-45页 |
| ·稳流系数S_i | 第42-43页 |
| ·输出电阻R_o | 第43-44页 |
| ·电流温度系数α_l | 第44-45页 |
| ·电流稳定度 Y_i | 第45页 |
| ·国内外恒流源设备的现状 | 第45-47页 |
| 第三章 稳压二极管漂移负荷台的研制 | 第47-61页 |
| ·研制工作的目的和意义 | 第47页 |
| ·技术指标 | 第47-48页 |
| ·稳压二极管漂移负荷台的技术方案 | 第48-53页 |
| ·稳压二极管漂移负荷台的整机框图 | 第48-51页 |
| ·交流电流调整输入电路 | 第50页 |
| ·直流电流整流、滤波电路 | 第50页 |
| ·恒流预稳定电路 | 第50页 |
| ·恒定电流调整电路 | 第50-51页 |
| ·被测管的电压测试系统 | 第51页 |
| ·辅助电源电路系统 | 第51页 |
| ·实施方案 | 第51-53页 |
| ·直流恒流源部分 | 第51页 |
| ·显示部分 | 第51-52页 |
| ·测试系统部分 | 第52-53页 |
| ·单元主电路的设计 | 第53-61页 |
| ·单元主电路设计 | 第53-60页 |
| ·单元主电路的实际结构和工作原理 | 第53-56页 |
| ·功率放大器实用电路 | 第56-57页 |
| ·显示自动分档电路和测试电路 | 第57-58页 |
| ·保护电路的设计 | 第58-60页 |
| ·功率器件的选择 | 第60-61页 |
| 第四章 稳压管漂移负荷台在实际应用中的测试结果 | 第61-65页 |
| ·直流恒流源输出电流稳定度等指标侧试 | 第61-62页 |
| ·试验仪器设备 | 第61页 |
| ·试验原理框图 | 第61-62页 |
| ·测试结果与结论 | 第62-65页 |
| ·输出电流稳定度数据 | 第62-63页 |
| ·输出交流纹波数据 | 第63页 |
| ·输出容量测试 | 第63-64页 |
| ·该测试台电流-时间的漂移检测数据 | 第64-65页 |
| 第五章 结论 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 附1 | 第68-69页 |
| 附2 | 第69-70页 |
| 图版 | 第70页 |