| 中文摘要 | 第1-5页 |
| 英文摘要 | 第5-9页 |
| 1 Josephson 效应及超导量子干涉仪原理 | 第9-19页 |
| ·Josephson 效应的提出 | 第9-10页 |
| ·Josephson 效应的发现 | 第10-12页 |
| ·Shapiro 台阶 | 第12页 |
| ·超导量子干涉仪(SQUID)和SQUID 磁强计 | 第12-16页 |
| ·超导量子干涉仪(SQUID) | 第12-14页 |
| ·SQUID 磁强计及其原理 | 第14-16页 |
| ·DC SQUID 的工作原理 | 第16-19页 |
| ·DC SQUID 的工作原理 | 第16-17页 |
| ·SQUID 的噪声 | 第17-19页 |
| 2 SQUID 显微镜的发展及现状 | 第19-25页 |
| ·SQUID 显微镜的发展 | 第19-20页 |
| ·可检测室温样品的扫描SQUID 显微镜 | 第20-22页 |
| ·国外使用磁聚焦器的现状 | 第22-25页 |
| 3 扫描SQUID 显微镜在无损检测中的应用 | 第25-30页 |
| ·无损检测 | 第25-30页 |
| ·无损检测的简介 | 第25页 |
| ·常规无损检测技术 | 第25-27页 |
| ·扫描SQUID NDT 系统 | 第27页 |
| ·检测静磁材料的表面擦伤 | 第27-28页 |
| ·检测无磁导电材料的内部缺陷 | 第28-30页 |
| 4 扫描SQUID 显微镜空间分辨率的改进方法 | 第30-41页 |
| ·SQUID 显微镜的空间分辨率 | 第30-32页 |
| ·空间分辨率的计算 | 第31-32页 |
| ·磁聚焦器的研制 | 第32-38页 |
| ·室温模拟实验 | 第32-34页 |
| ·磁聚焦参数 | 第34-37页 |
| ·结论及分析 | 第37-38页 |
| ·磁聚焦器的测试 | 第38-41页 |
| ·SQUID 显微镜法兰底盘的改进 | 第38-39页 |
| ·磁聚焦器的制作 | 第39-40页 |
| ·磁聚焦器的安装与使用 | 第40-41页 |
| 5 微弱电流的检测 | 第41-47页 |
| ·无损检测在微电子工业上的应用前景 | 第41页 |
| ·检测载流导线的磁场 | 第41-42页 |
| ·二平面模型 | 第42-44页 |
| ·二平面模型的应用 | 第44-47页 |
| 6 总结 | 第47-49页 |
| 致谢 | 第49-50页 |
| 参考文献 | 第50-53页 |
| 附录 1. 作者在攻读硕士士学位期间发表的论文 | 第53-54页 |
| 独创性声明 | 第54页 |
| 学位论文版权使用授权书 | 第54页 |