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高频器件中阴极发射的研究及结构设计

摘要第1-5页
Abstract第5-8页
第一章 绪论第8-14页
   ·真空电子发射第8-9页
     ·热电子发射第8页
     ·场发射第8-9页
   ·冷阴极在高频器件中的应用第9-12页
     ·FEA(Field Emission Array)在微波器件中的应用第9-10页
     ·碳纳米管(Carbon Nanotube, CNT)作微波器件发射源第10-12页
   ·论文的选题及主要工作第12-14页
第二章 场发射理论第14-22页
   ·表面势垒和电子发射第14页
   ·场致发射分类第14-18页
     ·金属场致发射第14-17页
     ·半导体场致发射第17-18页
     ·内场致发射第18页
   ·场致发射电子的能量分布和 NOTTINGHAM 效应第18-20页
   ·空间电荷效应第20-22页
第三章 场发射阴极结构的研究第22-31页
   ·引言第22页
   ·场致发射阴极发射均匀性的研究第22-26页
     ·计算模型第22-23页
     ·发射电流密度的估计第23-24页
     ·三种阴极结构下发射电流密度的比较第24-26页
     ·碳管高度对场增强因子的影响第26页
   ·边缘场对场发射的影响第26-29页
     ·计算模型第26-27页
     ·不同划分方法的比较第27-28页
     ·CNTs 膜的高度对边缘效应的影响第28-29页
     ·阴极分块对荧光屏上均匀性的影响第29页
   ·小结第29-31页
第四章 碳纳米管作发射源的微波管聚束系统设计第31-44页
   ·引言第31页
   ·二次电子发射机理第31-33页
     ·二次电子发射的物理过程第31-33页
     ·半导体、绝缘体的二次电子发射第33页
   ·冷阴极微波管聚束系统的设计第33-43页
     ·计算模型1第34-37页
     ·计算模型2第37-39页
     ·计算模型3第39-41页
     ·计算模型4第41-43页
   ·小结第43-44页
第五章 场发射阴极受离子轰击的研究第44-51页
   ·引言第44-45页
   ·离子的产生及阴极受损程度的数值模拟第45-46页
     ·离子的产生第45页
     ·阴极受损程度的模拟第45-46页
   ·离子轰击模拟模型第46-47页
     ·模型结构第46-47页
     ·模拟的八种不同情况第47页
   ·模拟结果及讨论第47-50页
     ·等位线分布、电子轨迹及离子轨迹第47页
     ·离子损伤的比较第47-50页
   ·小结第50-51页
第六章 结论第51-52页
参考文献第52-56页
致谢第56-57页
作者简介第57页

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