| 第一章 绪论 | 第1-14页 |
| 1．1 引言 | 第7-9页 |
| 1．2 国内外叠层片式压敏电阻研究现状 | 第9-10页 |
| 1．3 片式压敏电阻器的市场前景 | 第10-13页 |
| 1．4 本课题研究的关键 | 第13-14页 |
| 第二章 ZnO压敏电阻的理论基础 | 第14-21页 |
| 2．1 ZnO的性质 | 第14-16页 |
| 2．1．1 本征特性 | 第14-16页 |
| 2．1．2 杂质对氧化锌电导的影响 | 第16页 |
| 2．2 ZnO压敏电阻的晶界能带 | 第16-18页 |
| 2．3 ZnO压敏电阻器的导电机理 | 第18页 |
| 2．4 压敏电阻性能参数 | 第18-21页 |
| 第三章 实验方案 | 第21-28页 |
| 3．1 添加剂的选择 | 第21页 |
| 3．2 制备工艺 | 第21-27页 |
| 3．2．1 粉料制备方法的选择 | 第21-23页 |
| 3．2．2 瓷片制备工艺 | 第23-25页 |
| 3．2．3 叠层片式压敏电阻（MultiLayer Varistor）制备工艺 | 第25-27页 |
| 3．3 原料及工艺设备 | 第27-28页 |
| 第四章 实验结果与分析 | 第28-62页 |
| 4．1 瓷料配方体系中各添加剂影响规律研究 | 第28-38页 |
| 4．1．1 PbO对材料性能的影响 | 第28-30页 |
| 4．1．2 B_2O_3对材料性能的影响 | 第30-32页 |
| 4．1．3 Co_2O_3对材料性能的影响 | 第32-33页 |
| 4．1．4 MnO_2对材料性能的影响 | 第33-35页 |
| 4．1．5 Sb_2O_3对材料性能的影响 | 第35-38页 |
| 4．2 瓷料配方体系中部分添加剂综合影响规律研究 | 第38-42页 |
| 4．2．1 玻璃料对材料性能的影响 | 第38-39页 |
| 4．2．2 Co_2O_3、MnO_2、Cr_2O_3对材料性能的影响 | 第39-41页 |
| 4．2．3 PbB_4O_7对材料性能的影响 | 第41-42页 |
| 4．3 烧结工艺研究 | 第42-49页 |
| 4．3．1 烧结氧化锌压敏电阻烧结理论 | 第43-45页 |
| 4．3．2 烧结温度研究 | 第45-47页 |
| 4．3．3 保温时间的研究 | 第47-48页 |
| 4．3．4 烧结气氛的研究 | 第48-49页 |
| 4．4 制备工艺其它方面研究 | 第49-51页 |
| 4．5 压敏陶瓷电阻器叠层片式化（MultiLayer Varistors）研究 | 第51-62页 |
| 4．5．1 内电极浆料的选择 | 第51-54页 |
| 4．5．2 MLV样品制备 | 第54-55页 |
| 4．5．3 烧结温度对片式压敏电阻性能影响 | 第55-58页 |
| 4．5．4 烧成制度对片式压敏电阻性能影响 | 第58-59页 |
| 4．5．5 MLV其它特性研究 | 第59-62页 |
| 第五章 结论 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-66页 |
