| 摘要 | 第1-10页 |
| Abstract | 第10-12页 |
| 第一章 前言 | 第12-40页 |
| ·地质样品研究现状 | 第12-19页 |
| ·地质样品的研究意义 | 第12-13页 |
| ·地质样品的常规分析方法 | 第13-19页 |
| ·激光溅射电离技术的原理及应用 | 第19-28页 |
| ·激光溅射离子源技术的原理 | 第19-20页 |
| ·激光溅射离子源技术的应用 | 第20-28页 |
| ·本论文的研究目的、意义及主要内容 | 第28-29页 |
| ·参考文献 | 第29-40页 |
| 第二章 LAI-TOF-MS的结构和原理及其用于地质样品直接分析的研究 | 第40-69页 |
| ·激光离子源飞行时间质谱仪的产生和发展 | 第40-42页 |
| ·飞行时间质谱的发展 | 第40-42页 |
| ·激光离子源飞行时间质谱的发展 | 第42页 |
| ·LAI-TOF-MS的结构、原理及性能 | 第42-51页 |
| ·LAI-TOF-MS的结构及原理 | 第42-49页 |
| ·LAI-TOF-MS的性能评价指标 | 第49-51页 |
| ·LAI-TOF-MS用于地质样品直接分析的研究 | 第51-65页 |
| ·LAI-TOF-MS中影响分析结果的主要因素 | 第51-59页 |
| ·LAI-TOF-MS用于地质样品直接分析 | 第59-65页 |
| ·参考文献 | 第65-69页 |
| 第三章 ICP-MS和XRF在地质样品分析中的应用 | 第69-97页 |
| ·ICP-MS简介 | 第69-73页 |
| ·ICP-MS的发展 | 第69页 |
| ·ICP-MS仪器基本结构 | 第69-73页 |
| ·本研究工作中的ICP-MS实验部分 | 第73-82页 |
| ·样品前处理 | 第73-77页 |
| ·ICP-MS工作参数 | 第77页 |
| ·结果及讨论 | 第77-82页 |
| ·X射线荧光光谱概述 | 第82-87页 |
| ·X射线荧光光谱的发展 | 第82-83页 |
| ·X射线荧光谱谱仪的基本结构 | 第83-87页 |
| ·本研究工作中的X射线荧光光谱实验 | 第87-94页 |
| ·样品的制备 | 第87-88页 |
| ·波长色散X射线荧光光谱仪及其工作参数 | 第88-90页 |
| ·结果与讨论 | 第90-94页 |
| ·参考文献 | 第94-97页 |
| 第四章 地质样品分析方法LAI-TOF-MS,ICP-MS,XRF的比较 | 第97-102页 |
| ·LAI-TOF-MS,ICP-MS,XRF分析地质样品的结果比较 | 第97-99页 |
| ·元素含量的比较 | 第97-98页 |
| ·元素相对含量的比较 | 第98-99页 |
| ·LAI-TOF-MS,ICP-MS,XRF三种分析方法比较 | 第99-101页 |
| ·参考文献 | 第101-102页 |
| 第五章 结论与展望 | 第102-105页 |
| ·研究结论 | 第102页 |
| ·本研究工作的创新点 | 第102-104页 |
| ·本研究工作的前景展望 | 第104-105页 |
| 在学期间发表的论文 | 第105-106页 |
| 致谢 | 第106页 |
