| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-22页 |
| ·研究背景和意义 | 第13-16页 |
| ·电源电流测试技术的发展与研究现状 | 第16-21页 |
| ·电源电流测试的发展情况 | 第16-17页 |
| ·电源电流测试的特点 | 第17-20页 |
| ·目前存在的难题与研究方向 | 第20-21页 |
| ·本文研究内容 | 第21-22页 |
| 第二章 电源电流测试技术分析 | 第22-37页 |
| ·故障模型 | 第22-25页 |
| ·静态电流测试技术 | 第25-30页 |
| ·静态电流测试原理 | 第25-27页 |
| ·静态电流测试关键技术 | 第27-28页 |
| ·静态电流测试的改进 | 第28-30页 |
| ·动态电流测试技术 | 第30-36页 |
| ·动态电流测试原理 | 第30-31页 |
| ·动态电流测试的测试生成 | 第31-32页 |
| ·动态电流测试的主要方法 | 第32-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第三章 基于电源电流测试的数字电路故障诊断 | 第37-60页 |
| ·特征提取技术 | 第37-39页 |
| ·小波分析 | 第37-39页 |
| ·归一化和主成分分析数据预处理技术 | 第39页 |
| ·智能故障诊断技术 | 第39-41页 |
| ·BP 神经网络原理 | 第39-40页 |
| ·支持向量机原理 | 第40-41页 |
| ·数字逻辑门电路测试 | 第41-51页 |
| ·与非门测试实例 | 第41-47页 |
| ·异或门测试实例 | 第47-50页 |
| ·实验总结分析 | 第50-51页 |
| ·组合逻辑电路测试诊断 | 第51-58页 |
| ·实验电路 | 第52-53页 |
| ·故障模式 | 第53-54页 |
| ·基于IDDT 测试的数字电路故障诊断 | 第54-56页 |
| ·故障诊断流程 | 第54页 |
| ·实验结果分析 | 第54-56页 |
| ·基于IDDQ 与IDDT 测试融合的数字电路测试诊断 | 第56-58页 |
| ·特征信息融合的智能故障诊断算法 | 第56-57页 |
| ·实验结果分析 | 第57-58页 |
| ·本章小结 | 第58-60页 |
| 第四章 基于电源电流测试的CMOS SRAM 存储器故障诊断 | 第60-75页 |
| ·概述 | 第60-65页 |
| ·常用存储器测试技术 | 第61-62页 |
| ·存储器测试类型分类 | 第62-63页 |
| ·存储器测试算法分析 | 第63-64页 |
| ·存储器故障类型 | 第64-65页 |
| ·基于电源电流测试的CMOS SRAM 存储单元故障测试 | 第65-74页 |
| ·实验电路 | 第65-66页 |
| ·CMOS SRAM 故障行为分析 | 第66-70页 |
| ·桥接故障 | 第66-69页 |
| ·开路故障 | 第69-70页 |
| ·耦合故障 | 第70页 |
| ·SRAM 存储器测试诊断算法及测试流程 | 第70-71页 |
| ·仿真结果分析 | 第71-74页 |
| ·本章小结 | 第74-75页 |
| 第五章 总结与展望 | 第75-77页 |
| ·本文工作总结 | 第75-76页 |
| ·展望 | 第76-77页 |
| 参考文献 | 第77-82页 |
| 致谢 | 第82-83页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第83页 |
