非接触CPU卡的设计与验证
目录 | 第1-4页 |
摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第一章 引言 | 第6-11页 |
·非接触CPU卡的介绍 | 第6-8页 |
·非接触CPU卡的应用发展 | 第8-9页 |
·本文研究的目标与内容 | 第9-11页 |
第二章 芯片介绍 | 第11-23页 |
·架构设计 | 第11-14页 |
·总线设计 | 第14-19页 |
·存储器地址分配 | 第14-15页 |
·外设总线结构 | 第15-17页 |
·MCU总线切换 | 第17-19页 |
·时钟设计 | 第19-20页 |
·复位设计 | 第20-21页 |
·芯片信息 | 第21-22页 |
·本章小结 | 第22-23页 |
第三章 安全机制设计 | 第23-35页 |
·概述 | 第23-24页 |
·DES模块 | 第24-26页 |
·DES加密算法介绍 | 第24-26页 |
·DES模块的设计 | 第26页 |
·频率检测 | 第26-29页 |
·故障攻击技术介绍 | 第26-27页 |
·频率检测模块的设计 | 第27-29页 |
·防DPA模块 | 第29-34页 |
·功耗分析技术介绍 | 第29-30页 |
·防DPA模块的设计 | 第30-34页 |
·本章小结 | 第34-35页 |
第四章 低功耗设计 | 第35-43页 |
·CMOS电路功耗分析 | 第35-36页 |
·CMOS电路低功耗设计 | 第36页 |
·本芯片的低功耗策略 | 第36-42页 |
·系统架构 | 第37-39页 |
·模块电路 | 第39-42页 |
·本章小结 | 第42-43页 |
第五章 验证与测试 | 第43-48页 |
·FPGA功能验证 | 第43-45页 |
·芯片测试 | 第45-48页 |
·测试方法 | 第45-46页 |
·测试结果 | 第46-48页 |
第六章 结论 | 第48-50页 |
参考文献 | 第50-51页 |
致谢 | 第51-52页 |