S12系列微控制器的编程调试系统的设计与实现
| 中文摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第1章 绪论 | 第7-15页 |
| ·S12系列微控制器 | 第7-8页 |
| ·嵌入式常用调试方法分析 | 第8-11页 |
| ·国内外研究现状 | 第11页 |
| ·课题实现的目标及意义 | 第11-12页 |
| ·本文的工作与结构 | 第12-15页 |
| ·本文课题来源 | 第12-13页 |
| ·本文工作 | 第13页 |
| ·本文结构 | 第13-15页 |
| 第2章 编程调试系统相关技术的研究 | 第15-25页 |
| ·BDM调试模式的技术研究 | 第15-21页 |
| ·BDM模块结构 | 第15-16页 |
| ·BDM位通信时序 | 第16-18页 |
| ·BDM命令 | 第18-19页 |
| ·BDM激活方式 | 第19-20页 |
| ·BDM断点机制 | 第20-21页 |
| ·FLASH存储器的编程技术 | 第21-24页 |
| ·FLASH存储器的基本特点 | 第21页 |
| ·FLASH存储器编程的基本概念 | 第21-22页 |
| ·FLASH寄存器 | 第22-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第3章 编程调试系统的实现方案及硬件设计 | 第25-31页 |
| ·编程调试系统的实现方案 | 第25-26页 |
| ·编程调试器芯片选型 | 第26-27页 |
| ·基本系统的电路设计 | 第27-30页 |
| ·电源电路 | 第27-28页 |
| ·晶振电路 | 第28页 |
| ·复位电路 | 第28页 |
| ·USB接口电路 | 第28-29页 |
| ·BDM接口电路 | 第29-30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 第4章 BDM编程调试器软件的设计与实现 | 第31-51页 |
| ·编程调试器软件设计流程 | 第31-32页 |
| ·USB模块设计 | 第32-35页 |
| ·USB初始化 | 第32页 |
| ·USB设备枚举 | 第32-34页 |
| ·USB数据传输 | 第34-35页 |
| ·BDM功能模块设计 | 第35-50页 |
| ·目标芯片频率测试 | 第35-37页 |
| ·BDM字节通信的实现 | 第37-41页 |
| ·BDM字节收发子程序选择 | 第41页 |
| ·BDM命令的实现 | 第41-43页 |
| ·目标芯片FLASH擦除功能的实现 | 第43-45页 |
| ·目标芯片FLASH写入功能的实现 | 第45-48页 |
| ·调试功能实现 | 第48-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第5章 编程调试系统高端软件的设计与实现 | 第51-73页 |
| ·USB通信实现 | 第51-52页 |
| ·目标代码分析 | 第52-55页 |
| ·S1格式目标代码分析 | 第52-53页 |
| ·S2格式目标代码分析 | 第53-55页 |
| ·擦写功能的实现 | 第55-57页 |
| ·通信流程的改进 | 第57-59页 |
| ·擦除写入模块通用性设计 | 第59-60页 |
| ·调试功能实现 | 第60-72页 |
| ·list文件分析 | 第60-62页 |
| ·断点设置 | 第62-63页 |
| ·逐语句调试 | 第63-64页 |
| ·逐过程调试 | 第64-65页 |
| ·"跳过"功能 | 第65-66页 |
| ·变量数据的获取与处理 | 第66-72页 |
| ·本章小结 | 第72-73页 |
| 第6章 总结与展望 | 第73-76页 |
| ·设计体会 | 第73-74页 |
| ·总结 | 第74-75页 |
| ·展望 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-78页 |
| 附录A UF32芯片USB模块寄存器 | 第78-79页 |
| 攻读硕士学位期间公开发表的论文 | 第79-80页 |
| 致谢 | 第80-81页 |
| 详细摘要 | 第81-83页 |
