| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-18页 |
| ·设计背景 | 第9页 |
| ·CMOS 图像传感器的发展现状 | 第9-10页 |
| ·CMOS 图像传感器的结构 | 第10-13页 |
| ·CMOS 无源像素图像传感器 | 第10-11页 |
| ·CMOS 有源像素图像传感器 | 第11页 |
| ·CMOS 数字图像传感器 | 第11-13页 |
| ·ADC 的性能参数 | 第13-17页 |
| ·ADC 的静态特性参数 | 第13-15页 |
| ·ADC 的动态参数 | 第15-17页 |
| ·本文结构 | 第17-18页 |
| 第二章 高速ADC 的原理及性能比较 | 第18-28页 |
| ·全并行结构A/D 转换器 | 第18-19页 |
| ·两步式A/D 转换器 | 第19-20页 |
| ·流水线A/D 转换器 | 第20-27页 |
| ·流水线A/D 转换器的基本结构 | 第20-21页 |
| ·流水线A/D 转换器的优势 | 第21-22页 |
| ·流水线A/D 转换器速度与功耗分析 | 第22-24页 |
| ·每级1.5 位流水线ADC 算法及实现 | 第24-27页 |
| ·小结 | 第27-28页 |
| 第三章 每级1.5 位流水线ADC 的系统级建模仿真 | 第28-41页 |
| ·每级1.5 位流水线ADC 的理想模型 | 第28-31页 |
| ·流水线每一级的Matlab 实现 | 第28-29页 |
| ·每级1.5 位流水线ADC 系统功能验证 | 第29-30页 |
| ·10 位每级1.5 位流水线ADC 的最终实现 | 第30-31页 |
| ·比较器失调电压的影响 | 第31-32页 |
| ·前8 级比较器失调电压的影响 | 第31页 |
| ·第9 级比较器失调电压的影响 | 第31-32页 |
| ·噪声（noise）的影响 | 第32-37页 |
| ·量化噪声 | 第32-33页 |
| ·热噪声 | 第33-34页 |
| ·系统仿真确定各级采样电容大小 | 第34-37页 |
| ·余数放大器增益误差的影响 | 第37-40页 |
| ·余数放大器增益误差对系统性能的影响 | 第37页 |
| ·静态增益误差的影响 | 第37-39页 |
| ·动态增益误差的影响 | 第39-40页 |
| ·小结 | 第40-41页 |
| 第四章 每级1.5 位流水线ADC 的电路实现 | 第41-71页 |
| ·基准源 | 第41-47页 |
| ·电路结构分析 | 第41-43页 |
| ·仿真结果 | 第43-47页 |
| ·偏置电路 | 第47-49页 |
| ·参考电压产生电路 | 第49-51页 |
| ·时钟产生电路 | 第51-53页 |
| ·比较器 | 第53-56页 |
| ·比较器结构的选择 | 第53-54页 |
| ·电阻型动态锁存比较器 | 第54-56页 |
| ·余数放大器 | 第56-65页 |
| ·余数放大器的工作原理分析 | 第56-58页 |
| ·下极板采样技术 | 第58-59页 |
| ·余数放大器内部OTA 设计 | 第59-61页 |
| ·开关电容共模反馈电路分析 | 第61-64页 |
| ·余数放大器仿真结果 | 第64-65页 |
| ·子数模转换器（sub-dac） | 第65-68页 |
| ·数字逻辑电路设计 | 第68-70页 |
| ·时钟对齐电路 | 第68-69页 |
| ·数字校正电路 | 第69-70页 |
| ·小结 | 第70-71页 |
| 第五章 流水线ADC 的整体性能仿真分析 | 第71-82页 |
| ·系统静态性能分析 | 第71-74页 |
| ·系统动态性能分析 | 第74-77页 |
| ·频谱泄漏 | 第74-75页 |
| ·窗函数选择 | 第75-76页 |
| ·正弦输入信号频率选取 | 第76-77页 |
| ·流水线ADC 的整体性能仿真分析 | 第77-80页 |
| ·流水线ADC 的整体静态性能仿真分析 | 第77-78页 |
| ·流水线ADC 的整体动态性能仿真分析 | 第78-80页 |
| ·流水线ADC 的功耗分析及比较 | 第80-81页 |
| ·小结 | 第81-82页 |
| 第六章 总结 | 第82-84页 |
| 参考文献 | 第84-87页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第87-88页 |
| 致谢 | 第88页 |