| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第8-16页 |
| 1.1 引言 | 第8页 |
| 1.2 选题背景和意义 | 第8-9页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第9-13页 |
| 1.3.1 国外研究现状 | 第10-12页 |
| 1.3.2 国内研究现状 | 第12-13页 |
| 1.4 内置检测线圈的间接位置估计法的提出和意义 | 第13-14页 |
| 1.5 论文研究内容和章节安排 | 第14-16页 |
| 第二章 检测线圈结构优化策略 | 第16-30页 |
| 2.1 SRM两种主绕组连接形式的有限元分析 | 第16-22页 |
| 2.1.1 SRM两种主绕组连接形式 | 第16-17页 |
| 2.1.2 两种主绕组连接形式的磁场分布比较 | 第17-22页 |
| 2.2 检测线圈结构的优化选取 | 第22-27页 |
| 2.2.1 检测线圈结构 | 第22-23页 |
| 2.2.2 检测线圈对主绕组互感耦合抑制能力分析 | 第23-27页 |
| 2.3 检测线圈和主绕组在不同磁场分布的互感特性分析 | 第27-29页 |
| 2.3.1 两种连接形式的主绕组相间互感特性分析 | 第27-28页 |
| 2.3.2 检测线圈与非同相主绕组的互感特性分析 | 第28-29页 |
| 2.4 本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 电机主磁路饱和对转子位置估计的影响 | 第30-43页 |
| 3.1 检测电路参数优化选取 | 第30-38页 |
| 3.1.1 检测电阻参数优化选取 | 第30-32页 |
| 3.1.2 二极管检波电路参数优化选取 | 第32-34页 |
| 3.1.3 低通滤波电路的频率特性 | 第34-38页 |
| 3.2 电机主磁路饱和的有限元仿真分析 | 第38-42页 |
| 3.2.1 电机低速运转状况的有限元分析 | 第40页 |
| 3.2.2 电机中高速运转状况的有限元分析 | 第40-42页 |
| 3.3 本章小结 | 第42-43页 |
| 第四章 转子位置估计策略 | 第43-54页 |
| 4.1 三相电感分区判断逻辑 | 第43-44页 |
| 4.2 转子位置角度-相电感模型建立 | 第44-45页 |
| 4.3 转子位置估计策略仿真分析 | 第45-47页 |
| 4.4 误差分析与相移补偿策略 | 第47-50页 |
| 4.5 实验验证 | 第50-53页 |
| 4.5.1 脉冲注入实验 | 第50-51页 |
| 4.5.2 相移补偿实验 | 第51页 |
| 4.5.3 电机在不同负载条件的位置估计实验 | 第51-52页 |
| 4.5.4 电机在不同运行阶段的位置估计实验 | 第52-53页 |
| 4.6 本章小结 | 第53-54页 |
| 第五章 实验平台硬件设计 | 第54-61页 |
| 5.1 功率变换电路 | 第54-55页 |
| 5.2 驱动电路工作原理 | 第55-56页 |
| 5.3 电流调理电路 | 第56-57页 |
| 5.4 主控制芯片 | 第57页 |
| 5.5 位置检测电路设计 | 第57-60页 |
| 5.6 本章小结 | 第60-61页 |
| 第六章 总结与展望 | 第61-63页 |
| 6.1 全文工作总结 | 第61页 |
| 6.2 进一步工作展望 | 第61-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-69页 |
| 作者简介 | 第69页 |