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半导体材料的界面调控及其光电化学性能研究

摘要第4-6页
Abstract第6-8页
第一章 引言第13-36页
    1.1 概述第13-14页
    1.2 半导体光电化学概述第14-19页
        1.2.1 光电化学反应的过程第14-15页
        1.2.2 光电化学反应测试装置和效率计算方法第15-19页
    1.3 光电化学中存在的科学问题及可能的解决思路第19-25页
        1.3.1 稳定和高效的吸光半导体第19-21页
        1.3.2 在广泛pH溶液中发展稳定存在的助催化剂第21-22页
        1.3.3 助催化剂的透明度第22页
        1.3.4 结构、表界面以及简单装置的设计第22-23页
        1.3.5 扩展光电化学反应的适用范围第23-25页
    1.4 光电极设计和界面调控在光电化学中的研究现状第25-27页
    1.5 选题的意义和研究内容第27-28页
    参考文献第28-36页
第二章 BIVO_4异质结的构建及其在光电化学析氧反应中的应用第36-55页
    2.1 前言第36-37页
    2.2 实验部分第37-40页
        2.2.1 实验原料及设备第37-38页
        2.2.2 实验方案第38-39页
        2.2.3 光电化学测试方法第39-40页
    2.3 实验结果与讨论第40-50页
        2.3.1 BiVO_4光电阳极的表征及其性能测试第40-42页
        2.3.2 异质结设计的原理第42-44页
        2.3.3 CuWO_4/BiVO_4异质结的构建及其表征第44-46页
        2.3.4 界面电荷分离对CuWO_4/BiVO_4光电化学析氧性能的影响第46-47页
        2.3.5 n-Si/ITO/BiVO_4异质结的构建及其表征第47-49页
        2.3.6 界面内建电场对n-Si/ITO/BiVO_4光电化学析氧性能的影响第49-50页
    2.4 总结第50-51页
    参考文献第51-55页
第三章 NIP_2负载结构硅光电阴极的制备及其在光电化学析氢反应中的应用第55-78页
    3.1 前言第55-57页
    3.2 实验部分第57-59页
        3.2.1 实验原料及设备第57页
        3.2.2 实验方案第57-58页
        3.2.3 光电化学测试方法第58-59页
    3.3 结果与讨论第59-72页
        3.3.1 构建硅异质结构的原理第59-60页
        3.3.2 NiP_2助催化剂的表征第60-63页
        3.3.3 NiP_2助催化剂的透明度研究第63-64页
        3.3.4 NiP_2助催化剂的电化学析氢性能研究第64-65页
        3.3.5 p-Si表面处理对于光电化学析氢性能的影响第65-67页
        3.3.6 pn~+-Si/Ti/NiP_2光电阴极在酸性溶液中的析氢性能研究第67-68页
        3.3.7 pn~+-Si/Ti/NiP_2光电阴极在中性溶液中的析氢性能研究第68-69页
        3.3.8 Ti层和NiP_2层厚度对光电化学析氢性能的影响第69-71页
        3.3.9 pn~+-Si/Ti/NiP_2的肖特基结测试第71-72页
        3.3.10 pn~+-Si/Ti/NiP_2在酸性和中性溶液中的稳定性研究第72页
    3.4 总结第72-73页
    参考文献第73-78页
第四章 光电化学阴极的设计及其在二氧化碳还原领域的应用研究第78-96页
    4.1 前言第78-81页
    4.2 实验部分第81-82页
        4.2.1 实验原料及设备第81页
        4.2.2 实验方案第81-82页
        4.2.3 光电化学测试方法第82页
    4.3 结果与讨论第82-92页
        4.3.1 Si/SiO_2/Ag光电阴极的SEM表征第82-84页
        4.3.2 Si/SiO_2/Ag光电阴极的CO_2还原性能研究第84-86页
        4.3.3 不同沉积时间对Si/SiO_2/Ag光电阴极CO_2还原性能的影响第86-88页
        4.3.4 Si NW/SiO_2/Ag光电阴极CO_2还原性能研究第88-92页
    4.4 总结第92-93页
    参考文献第93-96页
第五章 硅光电阴极用于高附加值化学品的光电化学合成第96-124页
    5.1 前言第96-98页
    5.2 实验部分第98-102页
        5.2.1 实验原料及设备第98页
        5.2.2 实验方案第98-99页
        5.2.3 光电化学测试方法第99-100页
        5.2.4 产物浓度的分析方法第100-102页
    5.3 结果与讨论第102-119页
        5.3.1 材料形貌表征第102-104页
        5.3.2 光电化学顺丁烯二酸和水的还原反应性能研究第104-105页
        5.3.3 不同长度SiNWs对光电化学顺丁烯二酸还原反应的影响第105-107页
        5.3.4 电化学顺丁烯二酸还原反应的研究第107-108页
        5.3.5 反应物浓度对光电化学顺丁烯二酸还原反应的影响第108-109页
        5.3.6 助催化剂对光电化学顺丁烯二酸还原反应的影响第109-113页
        5.3.7 硅形貌对光电化学顺丁烯二酸还原反应的影响第113-114页
        5.3.8 表面反应速率对产物选择性的影响第114-115页
        5.3.9 光电化学顺丁烯二酸还原反应的稳定性研究第115-116页
        5.3.10 光电化学草酸还原反应性能研究第116-119页
    5.4 总结第119-120页
    参考文献第120-124页
第六章 总结与展望第124-127页
    6.1 全文总结第124-125页
    6.2 研究延伸及展望第125-127页
攻读学位期间本人公开发表的论著、论文第127-129页
    期刊论文第127-129页
致谢第129页

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