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基于JTAG的MIPS软核处理器调试器设计与实现

摘要第5-6页
Abstract第6-7页
第1章 绪论第10-14页
    1.1 研究背景和意义第10-11页
    1.2 国内外研究现状第11-12页
    1.3 论文组织结构第12-14页
第2章 相关知识介绍第14-30页
    2.1 嵌入式调试技术第14-20页
        2.1.1 软件调试方案第14-15页
        2.1.2 硬件调试方案第15-20页
        2.1.3 调试方案的对比第20页
    2.2 JTAG技术简介第20-26页
        2.2.1 JTAG的基本原理第20-22页
        2.2.2 JTAG的基本结构第22-23页
        2.2.3 TAP控制器第23页
        2.2.4 测试数据寄存器组第23-25页
        2.2.5 JTAG指令简介第25-26页
    2.3 MIPS体系结构第26-28页
        2.3.1 MIPS32寄存器第26-27页
        2.3.2 MIPS32指令集第27-28页
        2.3.3 MIPS32协处理器第28页
    2.4 本章小结第28-30页
第3章 系统总体设计第30-32页
    3.1 功能概述第30页
    3.2 总体设计第30-31页
    3.3 本章小结第31-32页
第4章 MIPS处理器的研究与改进第32-44页
    4.1 处理器相关研究第32-35页
    4.2 处理器结构改进与实现第35-37页
    4.3 处理器调试异常设计与实现第37-42页
        4.3.1 调试异常设计第38-41页
        4.3.2 调试异常仿真测试第41-42页
    4.4 本章小结第42-44页
第5章 调试模块设计与实现第44-74页
    5.1 JTAG模块设计与实现第44-63页
        5.1.1 JTAG模块结构第44-46页
        5.1.2 TAP控制器设计与实现第46-55页
        5.1.3 指令寄存器设计与实现第55-56页
        5.1.4 数据寄存器设计与实现第56-57页
        5.1.5 JTAG指令的仿真验证第57-63页
    5.2 调试接口设计与实现第63-71页
        5.2.1 调试扫描链设计与实现第63-67页
        5.2.2 调试控制寄存器设计与实现第67-71页
    5.3 调试模块功能验证第71-73页
    5.4 本章小结第73-74页
第6章 调试系统功能设计与实现第74-84页
    6.1 调试中断设计与实现第75-77页
    6.2 断点调试设计与实现第77-79页
    6.3 单步调试设计与实现第79-82页
    6.4 本章小结第82-84页
第7章 结束语第84-86页
    7.1 工作总结第84页
    7.2 工作展望第84-86页
参考文献第86-90页
致谢第90页

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