摘要 | 第5-7页 |
abstract | 第7-9页 |
第1章 绪论 | 第13-18页 |
1.1 研究背景 | 第13-14页 |
1.2 太阳能电池的工作原理 | 第14页 |
1.3 CZTS太阳能电池的研究进展 | 第14-15页 |
1.4 CZTS太阳能电池结构 | 第15-16页 |
1.5 本工作的研究意义和主要研究内容 | 第16-18页 |
第2章 实验设备、原理及技术 | 第18-25页 |
2.1 实验及测试主要仪器 | 第18页 |
2.2 磁控溅射原理 | 第18-19页 |
2.3 材料制备方法 | 第19-21页 |
2.3.1 衬底处理 | 第19页 |
2.3.2 背电极制备 | 第19-20页 |
2.3.3 吸收层制备 | 第20页 |
2.3.4 缓冲层制备 | 第20-21页 |
2.3.5 窗口层制备 | 第21页 |
2.3.6 Ag电极制备 | 第21页 |
2.4 薄膜材料表征 | 第21-25页 |
2.4.1 台阶仪 | 第21-22页 |
2.4.2 扫描电子显微镜(SEM)及能谱仪(EDS) | 第22页 |
2.4.3 X射线衍射仪(XRD) | 第22-23页 |
2.4.4 拉曼光谱仪(Raman) | 第23页 |
2.4.5 紫外-可见透射光谱仪 | 第23页 |
2.4.6 半导体器件参数分析仪 | 第23-24页 |
2.4.7 太阳能电池光谱响应测量系统 | 第24-25页 |
第3章 CZTS薄膜制备及电池性能的研究 | 第25-39页 |
3.1 Zn含量对CZTS薄膜及电池特性的影响 | 第25-31页 |
3.1.1 实验过程 | 第25页 |
3.1.2 X射线衍射分析 | 第25-26页 |
3.1.3 Raman光谱分析 | 第26-27页 |
3.1.4 化学组分分析 | 第27-28页 |
3.1.5 表面及截面形貌分析 | 第28-30页 |
3.1.6 电池器件性能分析 | 第30-31页 |
3.2 衬底温度对CZTS薄膜及电池特性的影响 | 第31-37页 |
3.2.1 实验过程 | 第31-32页 |
3.2.2 X射线衍射分析 | 第32页 |
3.2.3 Raman光谱分析 | 第32-33页 |
3.2.4 表面及截面形貌分析 | 第33-34页 |
3.2.5 化学组分分析 | 第34-35页 |
3.2.6 吸收光谱分析 | 第35-36页 |
3.2.7 电池器件性能分析 | 第36-37页 |
3.3 本章小结 | 第37-39页 |
第4章 Ge和Se掺杂CZTS薄膜的制备及电池性能的研究 | 第39-46页 |
4.1 Ge、Se含量对CZTS薄膜及电池特性的影响 | 第39-44页 |
4.1.1 实验过程 | 第39页 |
4.1.2 化学组分分析 | 第39-40页 |
4.1.3 表面及截面形貌分析 | 第40-41页 |
4.1.4 X射线衍射分析 | 第41-42页 |
4.1.5 Raman光谱分析 | 第42-43页 |
4.1.6 电池器件性能分析 | 第43-44页 |
4.2 本章小结 | 第44-46页 |
第5章 阳离子Cd掺杂CZTS薄膜的制备及电池性能的研究 | 第46-56页 |
5.1 Cd含量对CZTS薄膜及电池特性的影响 | 第46-52页 |
5.1.1 实验过程 | 第46页 |
5.1.2 X射线衍射分析 | 第46-47页 |
5.1.3 Raman光谱分析 | 第47-48页 |
5.1.4 化学组分分析 | 第48-49页 |
5.1.5 表面及截面形貌分析 | 第49-50页 |
5.1.6 紫外-可见吸收特性分析 | 第50-51页 |
5.1.7 电池器件性能分析 | 第51-52页 |
5.2 电池器件优化 | 第52-55页 |
5.3 本章小结 | 第55-56页 |
结束语 | 第56-58页 |
参考文献 | 第58-62页 |
致谢 | 第62页 |