| 摘要 | 第8-9页 |
| ABSTRACT | 第9页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 研究背景 | 第10-13页 |
| 1.1.1 集成电路芯片测试简介 | 第10-12页 |
| 1.1.2 存储器验证系统的可行性 | 第12-13页 |
| 1.2 集成电路芯片验证的国内外发展状况 | 第13-14页 |
| 1.3 论文的主要任务和章节安排 | 第14-16页 |
| 第2章 存储器测试基本原理 | 第16-30页 |
| 2.1 存储器分类简介 | 第16-18页 |
| 2.2 Flash存储器的故障模型概述 | 第18-22页 |
| 2.2.1 Flash芯片功能模型 | 第18-19页 |
| 2.2.2 Flash存储器功能的故障模型 | 第19-22页 |
| 2.3 常用存储器的测试算法 | 第22-23页 |
| 2.4 6Mb NOR Flash存储器的芯片结构 | 第23-29页 |
| 2.4.1 CTM Flash存储器原理 | 第24-25页 |
| 2.4.2 芯片电路结构框图 | 第25-28页 |
| 2.4.3 芯片封装 | 第28-29页 |
| 2.5 本章小结 | 第29-30页 |
| 第3章 FLASH存储器验证系统的硬件设计 | 第30-66页 |
| 3.1 Flash存储器验证系统概述 | 第30-32页 |
| 3.1.1 Flash存储器验证系统的功能需求 | 第30-31页 |
| 3.1.2 Flash存储器验证系统的硬件架构 | 第31-32页 |
| 3.2 FPGA最小系统设计 | 第32-39页 |
| 3.2.1 FPGA芯片 | 第32-33页 |
| 3.2.2 FPGA的电源供应 | 第33-35页 |
| 3.2.3 JTAG下载电路 | 第35-37页 |
| 3.2.4 FPGA的时钟输入 | 第37-38页 |
| 3.2.5 FPGA的复位电路 | 第38-39页 |
| 3.3 FPGA外设电路的设计 | 第39-53页 |
| 3.3.1 DDR3电路设计 | 第39-42页 |
| 3.3.2 DVI电路设计 | 第42-46页 |
| 3.3.3 System ACE CF卡电路设计 | 第46-48页 |
| 3.3.4 SPI Flash电路设计 | 第48-49页 |
| 3.3.5 以太网PHY电路设计 | 第49-52页 |
| 3.3.6 USB转UART电路电路设计 | 第52-53页 |
| 3.3.7 液晶电路设计 | 第53页 |
| 3.4 存储器验证系统电源电路的设计 | 第53-61页 |
| 3.4.1 外部电源输入电路 | 第54页 |
| 3.4.2 FPGA供电电路设计 | 第54-58页 |
| 3.4.3 被测存储器供电电路设计 | 第58-61页 |
| 3.5 存储器验证系统的接口板电路设计 | 第61-62页 |
| 3.6 本章小结 | 第62-66页 |
| 第4章 FLASH存储器的测试及演示 | 第66-80页 |
| 4.1 数字控制逻辑架构 | 第66-67页 |
| 4.2 FPGA数字逻辑控制程序开发 | 第67-71页 |
| 4.3 芯片测试 | 第71-75页 |
| 4.4 字线、位线串扰测试 | 第75-77页 |
| 4.5 芯片演示 | 第77-79页 |
| 4.6 本章小结 | 第79-80页 |
| 第5章 总结与展望 | 第80-82页 |
| 5.1 总结 | 第80页 |
| 5.2 展望 | 第80-82页 |
| 参考文献 | 第82-86页 |
| 致谢 | 第86-87页 |
| 攻读硕士学位期间参与的项目 | 第87-88页 |
| 学位论文评闻及答辩情况表 | 第88页 |