| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-16页 |
| 1.1 Ta_2O_5 系列材料的研究意义 | 第8-10页 |
| 1.2 Ta_2O_5 系列材料的研究状况 | 第10-14页 |
| 1.2.1 Ta_2O_5 掺杂不同金属氧化物以改变其介电性能的研究 | 第10-13页 |
| 1.2.2 (Ta_2O_5)_(1-x)(TiO_2)_x 掺杂改性微观机理的研究 | 第13-14页 |
| 1.3 本论文主要研究内容 | 第14-16页 |
| 第2章 电子陶瓷工艺及实验分析方法 | 第16-26页 |
| 2.1 电子陶瓷工艺 | 第16-22页 |
| 2.1.1 粉料的准备 | 第16-17页 |
| 2.1.2 预烧过程 | 第17-18页 |
| 2.1.3 粉料的塑化与成型 | 第18-19页 |
| 2.1.4 烧结过程 | 第19-20页 |
| 2.1.5 影响陶瓷性能的几个因素 | 第20-21页 |
| 2.1.6 陶瓷制备工艺的拟订 | 第21-22页 |
| 2.2 实验分析方法 | 第22-26页 |
| 2.2.1 差热分析 | 第23页 |
| 2.2.2 密度测试 | 第23-24页 |
| 2.2.3 介电性能的测量 | 第24页 |
| 2.2.4 X 射线衍射(XRD,X-Ray Diffraction)测试 | 第24-25页 |
| 2.2.5 扫描电镜(SEM)测试 | 第25-26页 |
| 第3章 (Ta_2O_5)_(0.92)(TiO_2)_(0.08)陶瓷最佳制备工艺的确定 | 第26-37页 |
| 3.1 实验过程 | 第26-27页 |
| 3.1.1 样品制备 | 第26-27页 |
| 3.1.2 样品测试 | 第27页 |
| 3.2 结果与讨论 | 第27-35页 |
| 3.2.1 制备工艺的确定 | 第27-32页 |
| 3.2.2 X 射线分析 | 第32-34页 |
| 3.2.3 SEM 显微结构分析 | 第34-35页 |
| 3.3 小结 | 第35-37页 |
| 第4章 (Ta_2O_5)_(1-x)(TiO_2)_x体系陶瓷的介电性能研究 | 第37-48页 |
| 4.1 (Ta_2O_5)_(1-x)(TiO_2)_x 体系陶瓷介电性能的研究 | 第38-45页 |
| 4.1.1 (Ta_2O_5)_(1-x)(TiO_2)_x 陶瓷密度与TiO_2 掺杂量的关系 | 第38-39页 |
| 4.1.2 (Ta_2O_5)_(1-x)(TiO_2)_x 陶瓷介电性能与TiO_2 掺杂量的关系 | 第39-45页 |
| 4.2 TiO_2 添加对相结构的影响 | 第45页 |
| 4.3 TiO_2 添加对微观结构的影响 | 第45-46页 |
| 4.4 小结 | 第46-48页 |
| 第5章 (Ta_2O_5)_(1-x)(TiO_2)_x陶瓷介电各向异性的研究 | 第48-58页 |
| 5.1 介电性能 | 第49-55页 |
| 5.1.1 切割与常规样品介电性能比较 | 第49-51页 |
| 5.1.2 不同成型压力下(Ta_2O_5)_(1-x)(TiO_2)_x 陶瓷介电各向异性 | 第51-55页 |
| 5.2 XRD 分析 | 第55页 |
| 5.3 SEM 分析 | 第55-56页 |
| 5.4 小结 | 第56-58页 |
| 结论 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-63页 |
| 攻读硕士学位期间申请的专利和发表的论文 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64页 |
