| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-17页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第10-12页 |
| 1.1.1 光纤陀螺中偏振器件介绍 | 第10-11页 |
| 1.1.2 光学相干域偏振测量技术——OCDP | 第11页 |
| 1.1.3 高精度偏振特性测量的意义 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-15页 |
| 1.2.1 OCDP的国内外研究现状 | 第12-14页 |
| 1.2.2 扫描光程均匀性校正现状 | 第14-15页 |
| 1.3 本论文的主要工作 | 第15-17页 |
| 第2章 扫描式白光干涉偏振测量原理 | 第17-29页 |
| 2.1 OCDP测试原理 | 第17-21页 |
| 2.1.1 白光干涉原理介绍 | 第17-18页 |
| 2.1.2 偏振特性测量参数 | 第18-19页 |
| 2.1.3 基于白光干涉的OCDP偏振耦合测试原理分析 | 第19-21页 |
| 2.2 光学延迟线非理想性对偏振测量结果的影响 | 第21-28页 |
| 2.2.1 延迟线在白光干涉中的作用 | 第21页 |
| 2.2.2 扫描式光学延迟线结构及特性介绍 | 第21-24页 |
| 2.2.3 非理想延迟线对信号产生的影响 | 第24-28页 |
| 2.3 本章小结 | 第28-29页 |
| 第3章 OCDP系统整体方案及其实现 | 第29-40页 |
| 3.1 OCDP整体测试方案 | 第29-33页 |
| 3.1.1 具有扫描校正的OCDP系统整机方案介绍 | 第29-32页 |
| 3.1.2 基于 3×3 耦合器的激光位移测量和校正方案介绍 | 第32-33页 |
| 3.2 OCDP系统构成及性能分析 | 第33页 |
| 3.3 测试系统软硬件整体设计 | 第33-39页 |
| 3.3.1 系统光路设计 | 第33-34页 |
| 3.3.2 硬件电路设计 | 第34-37页 |
| 3.3.3 系统软件设计 | 第37-39页 |
| 3.4 本章小结 | 第39-40页 |
| 第4章 光程扫描位置与均匀性校正 | 第40-55页 |
| 4.1 基于 3×3 耦合器的干涉解调介绍 | 第40-43页 |
| 4.1.1 基于 3×3 耦合器的干涉解调发展 | 第40页 |
| 4.1.2 基于 3×3 耦合器的干涉解调算法 | 第40-43页 |
| 4.2 光程扫描均匀性校正算法 | 第43-45页 |
| 4.2.1 均匀时间采样傅里叶变换重采样校正算法 | 第43-44页 |
| 4.2.2 重采样校正算法的仿真实现 | 第44-45页 |
| 4.3 OCDP系统扫描误差校正及扫描位置测量结果 | 第45-54页 |
| 4.3.1 干涉信号校正前后时频域数据对比 | 第45-47页 |
| 4.3.2 重采样校正算法实现的一些关键性问题 | 第47-51页 |
| 4.3.3 重采样校正对OCDP系统性能的影响 | 第51页 |
| 4.3.4 扫描光程位置解调结果对比 | 第51-54页 |
| 4.4 本章小结 | 第54-55页 |
| 第5章 OCDP系统光电噪声分析与性能优化 | 第55-64页 |
| 5.1 光电噪声分析及电路噪声抑制 | 第55-59页 |
| 5.1.1 光电噪声分析 | 第55-57页 |
| 5.1.2 电路噪声抑制研究 | 第57-59页 |
| 5.2 OCDP系统性能指标测试 | 第59-60页 |
| 5.3 OCDP系统典型器件测试结果 | 第60-63页 |
| 5.4 本章小结 | 第63-64页 |
| 结论 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71页 |
