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快速程控光纤延迟线设计与工艺研究

摘要第3-5页
ABSTRACT第5-6页
第一章 概述第10-15页
    1.1 课题背景第10页
    1.2 光纤延迟线的发展与应用第10-13页
        1.2.1 光纤延迟线基本原理第10-11页
        1.2.2 光纤延迟线与其他微波相位延迟比较第11-12页
        1.2.3 光纤延迟线在相位控制系统的应用第12-13页
    1.3 现有延迟线存在的问题和本论文完成的工作第13-15页
第二章 光纤延迟线结构设计分析与优化第15-27页
    2.1 光纤延迟线拓扑结构及其特点第15-20页
        2.1.1 数字可调式延迟线结构第16-18页
        2.1.2 连续可调式延迟线结构第18页
        2.1.3 串并联结合延迟线系统第18-20页
        2.1.4 用多进制实现串并联结构的最大延迟量第20页
    2.2 开关数量与延时总量的数值分析第20-22页
        2.2.1 开关个数与延时总量的关系第20-21页
        2.2.2 每级单元数量最佳值分析第21-22页
    2.3 延迟线单元设计第22-26页
        2.3.1 三单元级联延迟线系统第22-23页
        2.3.2 单元延时选择结构性能优化分析第23-25页
        2.3.3 串并联结合的延迟线结构第25-26页
    2.4 本章小结第26-27页
第三章 快速可编程延迟线光开关驱动工艺与性能测试第27-45页
    3.1 各种光开关的原理与性能第27-29页
        3.1.1 各种光开关简单介绍第27-28页
        3.1.2 各种光开关性能比较第28-29页
    3.2 半导体光放大器分析模型与特点第29-32页
        3.2.1 SOA 理论模型第29-30页
        3.2.2 SOA 主要特征参数第30-32页
    3.3 快速开关驱动电路设计与实现第32-35页
        3.3.1 SOA 可变电流驱动模块电路第33-34页
        3.3.2 SOA 温度反馈控制模块电路第34-35页
        3.3.3 SOA 驱动电路整合第35页
    3.4 快速开关SOA 性能测试方案与结果第35-44页
        3.4.1 SOA 可变电流下的内阻测量第36-37页
        3.4.2 SOA 在不同电流与输入功率下的增益第37-38页
        3.4.3 SOA 饱和输出功率测量第38-39页
        3.4.4 SOA 传输误码率测试第39-42页
        3.4.5 SOA 开关速度测试第42-44页
    3.5 本章小结第44-45页
第四章 高精度延迟线控制工艺与测试第45-60页
    4.1 精密反射仪原理及其应用第45-51页
        4.1.1 菲涅耳反射原理第45-46页
        4.1.2 M-Z 干涉系统和Michelson 干涉系统分析第46-48页
        4.1.3 HP-8504A 精密反射仪及其测试方法第48-50页
        4.1.4 精密反射仪的多路相对长度测量方法第50页
        4.1.5 使用精密反射仪测量非可逆光路第50-51页
    4.2 延迟线光程控制方法与工艺第51-54页
        4.2.1 使用精密反射仪对各器件的光程进行测量第51-53页
        4.2.2 使用精密光纤微拉伸系统控制光程第53-54页
    4.3 光纤拉伸实验系统与测试结果第54-58页
        4.3.1 光纤拉伸效果实验第54-56页
        4.3.2 单级延迟线精度测试结果第56-57页
        4.3.3 级联后延迟线精度测试结果第57-58页
        4.3.4 延迟线系统偏振特性测试第58页
    4.4 本章小结第58-60页
第五章 总结第60-62页
参考文献第62-66页
附录:符号说明第66-67页
致谢第67-68页
攻读学位期间发表的学术论文第68页

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