| 中文摘要 | 第5-7页 |
| 英文摘要 | 第7-8页 |
| 1 绪论 | 第11-27页 |
| 1.1 问题的提出及研究意义 | 第11-13页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第13-26页 |
| 1.2.1 影响绝缘子污闪电压的因素 | 第13-17页 |
| 1.2.2 绝缘子污秽放电机理及模型 | 第17-26页 |
| 1.3 本论文研究的主要内容 | 第26-27页 |
| 2 交流人工污秽试验试品、装置及方法 | 第27-42页 |
| 2.1 试品 | 第27-29页 |
| 2.2 试验装置 | 第29-30页 |
| 2.2.1 实验室人工污秽试验装置 | 第29-30页 |
| 2.2.2 高海拔现场人工污秽试验装置 | 第30页 |
| 2.3 试验方法 | 第30-41页 |
| 2.3.1 实验室人工污秽试验方法 | 第30-37页 |
| 2.3.2 高海拔现场人工污秽试验方法 | 第37-41页 |
| 2.4 本章小结 | 第41-42页 |
| 3 常压下绝缘子交流污闪特性 | 第42-64页 |
| 3.1 盐密对绝缘子污闪电压的影响及有效爬电系数 | 第42-52页 |
| 3.1.1 盐密对绝缘子污闪电压的影响 | 第42-45页 |
| 3.1.2 不同型式绝缘子的有效爬电系数 | 第45-52页 |
| 3.2 不溶性物质对绝缘子污闪电压的影响 | 第52-57页 |
| 3.2.1 灰密对绝缘子污闪电压的影响 | 第52-54页 |
| 3.2.2 不溶性物质种类对绝缘子污闪电压的影响 | 第54-57页 |
| 3.3 盐密与灰密对绝缘子污闪电压的综合影响 | 第57-62页 |
| 3.3.1 盐密、灰密综合影响下的污闪电压计算公式 | 第57-59页 |
| 3.3.2 回归方程和系数的显著性检验 | 第59-62页 |
| 3.4 本章小结 | 第62-64页 |
| 4 常压下不同型式绝缘子（串）交流污秽放电过程 | 第64-81页 |
| 4.1 标准悬式绝缘子串污秽放电过程 | 第64-72页 |
| 4.1.1 标准悬式绝缘子串放电过程 | 第64-67页 |
| 4.1.2 不同污秽度下标准悬式绝缘子串放电过程的比较 | 第67-69页 |
| 4.1.3 沿面电弧发展过程中的受力特性分析 | 第69-72页 |
| 4.2 不同型式瓷、玻璃悬式绝缘子串污秽放电过程比较 | 第72-77页 |
| 4.3 复合绝缘子污秽放电过程 | 第77-80页 |
| 4.4 本章小结 | 第80-81页 |
| 5 高海拔现场绝缘子交流污闪试验研究 | 第81-95页 |
| 5.1 高海拔现场绝缘子交流污闪特性 | 第82-89页 |
| 5.1.1 高海拔条件下绝缘子交流污闪电压数学模型 | 第82-84页 |
| 5.1.2 高海拔条件下绝缘子交流污闪电压的影响因素 | 第84-89页 |
| 5.2 高海拔现场绝缘子交流污秽放电过程 | 第89-93页 |
| 5.3 高海拔地区绝缘子串长修正的探讨 | 第93-94页 |
| 5.4 本章小结 | 第94-95页 |
| 6 绝缘子交流污秽放电模型 | 第95-116页 |
| 6.1 绝缘子交流污秽放电的改进模型 | 第95-100页 |
| 6.2 交流染污绝缘子表面电导率的试验研究 | 第100-103页 |
| 6.2.1 试验方法 | 第100-102页 |
| 6.2.2 盐密、灰密对表面电导率的影响 | 第102-103页 |
| 6.3 常压下绝缘子交流污秽放电模型 | 第103-112页 |
| 6.3.1 常压下交流染污绝缘子的合成电弧常数 | 第103-105页 |
| 6.3.2 污秽度和绝缘子形状参数对常压下交流临闪电压的影响 | 第105-109页 |
| 6.3.3 常压下外伞型和钟罩型绝缘子交流污秽放电修正模型 | 第109-112页 |
| 6.4 高海拔下绝缘子交流污秽放电模型 | 第112-115页 |
| 6.5 本章小结 | 第115-116页 |
| 7 结论与展望 | 第116-118页 |
| 7.1 本文结论 | 第116-117页 |
| 7.2 后续研究工作的展望 | 第117-118页 |
| 致谢 | 第118-119页 |
| 参考文献 | 第119-128页 |
| 附录 | 第128-133页 |
| A. 作者在攻读博士学位期间发表的论文目录 | 第128-131页 |
| B. 作者在攻读博士学位期间参与的科研项目 | 第131-133页 |
