| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-15页 |
| 第一章 引言 | 第15-25页 |
| ·粒子物理理论与实验 | 第15-18页 |
| ·标准模型 | 第15-17页 |
| ·高能物理实验 | 第17-18页 |
| ·粲偶素及其衰变 | 第18-22页 |
| ·粲偶素家族 | 第18-20页 |
| ·J/ψ衰变 | 第20-22页 |
| ·论文选题的意义 | 第22页 |
| ·论文的结构 | 第22-25页 |
| 第二章 北京谱仪Ⅲ(BESⅢ) | 第25-35页 |
| ·主漂移室(Main Drift Chamber) | 第26-28页 |
| ·飞行时间计数器(Time of Flight) | 第28-29页 |
| ·电磁量能器(Electro-Magnetic Calorimeter) | 第29-30页 |
| ·超导磁体(Superconduct Magnet) | 第30页 |
| ·μ子鉴别器(Muon Identifier) | 第30-32页 |
| ·触发判选系统(Trigger System) | 第32页 |
| ·在线数据获取系统(Data Acquisition) | 第32-33页 |
| ·北京谱仪Ⅲ离线软件系统 | 第33页 |
| ·本章小结 | 第33-35页 |
| 第三章 BESⅢ数据质量检查 | 第35-63页 |
| ·BESⅢ离线软件系统 | 第35-45页 |
| ·离线数据处理计算环境 | 第36-37页 |
| ·BOSS框架及其环境 | 第37-40页 |
| ·BOOST模拟系统 | 第40-43页 |
| ·概述 | 第40页 |
| ·事例产生子 | 第40-42页 |
| ·物质与几何 | 第42页 |
| ·相互作用 | 第42页 |
| ·击中信息及数字化 | 第42-43页 |
| ·真实化信息 | 第43页 |
| ·重建与刻度 | 第43-45页 |
| ·主漂移室重建与刻度 | 第43-44页 |
| ·TOF重建与刻度 | 第44页 |
| ·量能器重建与刻度 | 第44-45页 |
| ·μ探测器重建与刻度 | 第45页 |
| ·数据质量检查简介 | 第45-50页 |
| ·数据质量检查的意义及基本内容 | 第45-46页 |
| ·数据质量检查所用衰变道的事例选择 | 第46-50页 |
| ·J/ψ→e~+e~-及e~+e~-→e~+e~-过程的事例选择 | 第46-48页 |
| ·J/ψ→e~+e~-及e~+e~-→e~+e~-过程的本底分析 | 第48页 |
| ·J/ψ→ppπ~+π~-过程的事例选择 | 第48-49页 |
| ·J/ψ→ppπ~+π~-过程的本底分析 | 第49-50页 |
| ·离线数据质量检查DQA | 第50-52页 |
| ·离线数据质量检查简介 | 第50-51页 |
| ·离线数据质量检查内容 | 第51页 |
| ·离线数据质量检查举例 | 第51-52页 |
| ·BOSS版本检查与确定 | 第52-55页 |
| ·BOSS版本检查简介 | 第52-54页 |
| ·BOSS版本检查内容 | 第54-55页 |
| ·各探测器软件模块质量检查 | 第55-61页 |
| ·MDC的检查 | 第55-58页 |
| ·电离能损dE/dx的检查 | 第58-60页 |
| ·TOF的检查 | 第60页 |
| ·EMC的检查 | 第60-61页 |
| ·本章小结 | 第61-63页 |
| 第四章 径迹重建(Tracking)效率和粒子鉴别(Particle ID)效率的研究 | 第63-99页 |
| ·径迹重建效率和粒子鉴别效率的简介及研究意义 | 第63-64页 |
| ·径迹重建效率(Tracking Efficiency)研究的基本内容 | 第64-79页 |
| ·径迹重建效率和径迹重建误差的定义 | 第64-66页 |
| ·事例选择及效率计算 | 第66-69页 |
| ·J/ψ→e~+e~-及e~+e~-→e~+e~-过程 | 第66-67页 |
| ·J/ψ→ppπ~+π~-过程 | 第67-69页 |
| ·径迹重建效率及其系统误差的得到 | 第69-71页 |
| ·各粒子的径迹重建效率和误差 | 第71-74页 |
| ·二维径迹重建效率和系统误差 | 第74-79页 |
| ·径迹重建效率影响因素的研究 | 第79-85页 |
| ·∧∧→ppπ~+π~-对径迹重建效率的影响 | 第79-80页 |
| ·噪声对径迹重建效率的影响 | 第80-81页 |
| ·不同顶点限制条件对径迹重建效率的影响 | 第81-82页 |
| ·不同MC产生子对径迹重建效率的影响 | 第82-85页 |
| ·数据质量检查中的径迹重建效率检查举例 | 第85-86页 |
| ·粒子鉴别效率(PID Efficiency)研究的基本内容 | 第86-96页 |
| ·粒子鉴别效率及其系统误差的定义 | 第86-87页 |
| ·事例选择及效率计算 | 第87-88页 |
| ·粒子鉴别效率及其系统误差的得到 | 第88页 |
| ·各粒子的粒子鉴别效率和误差 | 第88-91页 |
| ·维粒子鉴别效率和系统误差 | 第91-96页 |
| ·数据质量检查中的粒子鉴别效率检查举例 | 第96-98页 |
| ·本章小结 | 第98-99页 |
| 第五章 J/ψ→pnπ~-+c.c.的物理分析 | 第99-127页 |
| ·背景介绍 | 第99-101页 |
| ·事例选择 | 第101-107页 |
| ·事例初选 | 第101-105页 |
| ·事例终选 | 第105-107页 |
| ·本底分析 | 第107-111页 |
| ·分支比的计算 | 第111页 |
| ·分支比的系统误差 | 第111-118页 |
| ·误差分析简介 | 第111-113页 |
| ·统计误差 | 第112-113页 |
| ·系统误差 | 第113页 |
| ·径迹重建误差(Tracking) | 第113页 |
| ·粒子鉴别误差(PID) | 第113-118页 |
| ·本底形状和拟合误差 | 第118页 |
| ·J/ψ总数的误差 | 第118页 |
| ·总的系统误差 | 第118页 |
| ·N~*共振态的研究 | 第118-121页 |
| ·与BESⅡ结果的比较 | 第121-123页 |
| ·本章小结 | 第123-127页 |
| 第六章 ψ(2S)→pnπ~-+c.c.的物理分析 | 第127-153页 |
| ·背景介绍 | 第127-128页 |
| ·事例选择 | 第128-133页 |
| ·事例初选 | 第128-129页 |
| ·事例终选 | 第129-133页 |
| ·本底分析 | 第133-140页 |
| ·分支比的计算 | 第140-142页 |
| ·分支比的系统误差 | 第142-143页 |
| ·径迹重建误差(Tracking) | 第142页 |
| ·粒子鉴别误差(PID) | 第142页 |
| ·本底形状和拟合误差 | 第142-143页 |
| ·ψ(2S)总数的误差 | 第143页 |
| ·总的系统误差 | 第143页 |
| ·N~*共振态的研究 | 第143-147页 |
| ·与BESⅡ结果的比较 | 第147-150页 |
| ·本章小结 | 第150-153页 |
| 第七章 总结 | 第153-155页 |
| 参考文献 | 第155-159页 |
| 致谢 | 第159-160页 |
