主要缩略语 | 第1-5页 |
摘要 | 第5-8页 |
ABSTRACT | 第8-12页 |
前言 | 第12-15页 |
材料与方法 | 第15-30页 |
1 主要试剂和仪器 | 第15-16页 |
2 试剂配制 | 第16-17页 |
3 技术路线 | 第17-18页 |
4 标本来源、分类及留取方法 | 第18页 |
5 标本处理及 DNA 的提取 | 第18-20页 |
6 石蜡包埋组织 DNA 提纯方法的比较 | 第20-23页 |
7 多重 PCR 扩增结核杆菌耐药基因体系的优化 | 第23-26页 |
8 多探针膜芯片检测结核杆菌耐药基因突变体系的优化 | 第26-28页 |
9 TB 膜芯片检测标本中结核杆菌的 IS6110 基因 | 第28-29页 |
10 PCR-膜芯片 检测标本中结核杆菌的耐药基因 | 第29页 |
11 DNA 测序验证 | 第29页 |
12 统计分析 | 第29-30页 |
结果 | 第30-58页 |
1 石蜡包埋组织 DNA 提取方法的比较结果 | 第30-32页 |
2 多重 PCR 反应条件的优化结果 | 第32-47页 |
3 多探针膜芯片杂交条件的优化 | 第47-48页 |
4 石蜡包埋组织标本的检测结果 | 第48-54页 |
5 痰标本的检测结果 | 第54-58页 |
讨论 | 第58-65页 |
参考文献 | 第65-71页 |
结核杆菌耐药机制及耐药基因 突变检测方法的研究进展 | 第71-100页 |
参考文献 | 第88-100页 |
致谢 | 第100页 |