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PCR—膜芯片?技术检测结核杆菌耐药基因突变的应用研究

主要缩略语第1-5页
摘要第5-8页
ABSTRACT第8-12页
前言第12-15页
材料与方法第15-30页
 1 主要试剂和仪器第15-16页
 2 试剂配制第16-17页
 3 技术路线第17-18页
 4 标本来源、分类及留取方法第18页
 5 标本处理及 DNA 的提取第18-20页
 6 石蜡包埋组织 DNA 提纯方法的比较第20-23页
 7 多重 PCR 扩增结核杆菌耐药基因体系的优化第23-26页
 8 多探针膜芯片检测结核杆菌耐药基因突变体系的优化第26-28页
 9 TB 膜芯片检测标本中结核杆菌的 IS6110 基因第28-29页
 10 PCR-膜芯片 检测标本中结核杆菌的耐药基因第29页
 11 DNA 测序验证第29页
 12 统计分析第29-30页
结果第30-58页
 1 石蜡包埋组织 DNA 提取方法的比较结果第30-32页
 2 多重 PCR 反应条件的优化结果第32-47页
 3 多探针膜芯片杂交条件的优化第47-48页
 4 石蜡包埋组织标本的检测结果第48-54页
 5 痰标本的检测结果第54-58页
讨论第58-65页
参考文献第65-71页
结核杆菌耐药机制及耐药基因 突变检测方法的研究进展第71-100页
 参考文献第88-100页
致谢第100页

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