首页--工业技术论文--化学工业论文--金属元素的无机化合物化学工业论文--第Ⅴ族金属元素的无机化合物论文--钒副族(ⅤB族)元素的无机化合物论文

VO2薄膜的HiPIMS制备工艺与相变温度调控机理研究

摘要第4-6页
Abstract第6-7页
第1章 绪论第14-31页
    1.1 课题背景及研究目的和意义第14-15页
    1.2 VO_2薄膜制备方法第15-21页
        1.2.1 直流溅射第15-16页
        1.2.2 射频溅射第16-18页
        1.2.3 高功率脉冲磁控溅射第18-20页
        1.2.4 其它制备方法第20-21页
    1.3 VO_2薄膜相变特性的调控方法第21-25页
        1.3.1 掺杂第21-22页
        1.3.2 改变基片以及取向第22-23页
        1.3.3 改变制备参数第23-25页
    1.4 VO_2薄膜的相变机理研究第25-30页
        1.4.1 Peierls相变第25-28页
        1.4.2 Mott相变第28-30页
    1.5 本文的主要研究内容第30-31页
第2章 试验材料及方法第31-35页
    2.1 试验材料第31页
    2.2 试验设备第31-32页
    2.3 薄膜制备方案第32-33页
    2.4 薄膜分析测试方法第33-35页
        2.4.1 等离子体特性分析第33页
        2.4.2 薄膜结构分析第33页
        2.4.3 薄膜形貌表征第33-34页
        2.4.4 薄膜相变特性表征第34-35页
第3章 VO_2薄膜的HiPIMS沉积工艺研究第35-72页
    3.1 引言第35页
    3.2 等离子体及放电特性研究第35-39页
        3.2.1 金属模式等离子体及放电特性研究第35-38页
        3.2.2 氧化模式等离子体及放电特性研究第38-39页
    3.3 氧流量对薄膜物相及形貌的影响第39-46页
        3.3.1 Ar/O比范围确定第39-40页
        3.3.2 不同氧流量薄膜的HiPIMS沉积第40-46页
    3.4 峰值电流对薄膜物相及形貌的影响第46-51页
    3.5 基片偏压对薄膜物相及形貌的影响第51-63页
        3.5.1 偏压对石英玻璃基片上两步法沉积VO_2薄膜的影响第52-58页
        3.5.2 偏压对ITO基片上一步法沉积VO_2薄膜的影响第58-63页
    3.6 溅射时间对薄膜物相及形貌的影响第63-71页
    3.7 本章小结第71-72页
第4章 VO_2薄膜的相变特性研究第72-84页
    4.1 引言第72页
    4.2 不同氧流量制备薄膜的相变特性研究第72-75页
    4.3 不同峰值电流制备薄膜的相变特性研究第75-77页
    4.4 不同偏压制备薄膜的相变特性研究第77-79页
        4.4.1 石英玻璃基片两步法沉积薄膜的相变特性第77-78页
        4.4.2 ITO基片上一步法沉积薄膜的相变特性第78-79页
    4.5 不同沉积时间制备薄膜的相变特性研究第79-82页
    4.6 本章小结第82-84页
第5章 VO_2薄膜的相变温度调控机理研究第84-114页
    5.1 引言第84页
    5.2 晶格畸变对相变温度的影响第84-101页
        5.2.1 不同氧流量制备薄膜的室温晶格畸变研究第84-88页
        5.2.2 薄膜的相变过程研究及高温结构验证第88-92页
        5.2.3 晶格畸变对相变温度调控的分子动力学模拟第92-101页
    5.3 相变过程的结构变化对相变温度的影响第101-106页
        5.3.1 不同峰值电流制备薄膜的室温晶格畸变研究第101-102页
        5.3.2 不同峰值电流制备薄膜的相变过程研究第102-106页
    5.4 晶粒尺寸对相变温度的影响第106-112页
        5.4.1 不同偏压制备薄膜的微观结构研究第106-108页
        5.4.2 VO_2(M)的Mott相变试验及理论验证第108-112页
    5.5 本章小结第112-114页
结论第114-116页
创新点第116页
展望第116-117页
参考文献第117-128页
攻读博士学位期间发表的论文及其它成果第128-130页
致谢第130-131页
个人简历第131页

论文共131页,点击 下载论文
上一篇:Android系统USB OTG启动研究
下一篇:SDN架构下的自适应匿名通信研究