铁电存储器老化的可控性研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-23页 |
| 1.1 存储器 | 第8-10页 |
| 1.1.1 存储器的分类 | 第8-9页 |
| 1.1.2 存储器工艺的发展 | 第9页 |
| 1.1.3 存储器技术的发展 | 第9-10页 |
| 1.2 铁电材料 | 第10-13页 |
| 1.3 铁电存储器 | 第13-15页 |
| 1.3.1 铁电存储器的工作原理 | 第13-14页 |
| 1.3.2 铁电存储器存储单元结构 | 第14页 |
| 1.3.3 铁电存储器的读写操作 | 第14-15页 |
| 1.4 铁电老化 | 第15-20页 |
| 1.4.1 铁电老化现象 | 第15-16页 |
| 1.4.2 铁电老化机制 | 第16-20页 |
| 1.5 课题研究动机及研究思路 | 第20-22页 |
| 1.6 论文具体内容安排 | 第22-23页 |
| 第二章 材料制备方法与测试方法的介绍 | 第23-28页 |
| 2.1 材料制备方法的介绍 | 第23-25页 |
| 2.2 材料测试方法的介绍 | 第25-28页 |
| 第三章 离子半径对铁电老化的控制 | 第28-37页 |
| 3.1 实验材料的合成与测试 | 第28页 |
| 3.2 实验结果 | 第28-34页 |
| 3.3 数据分析与讨论 | 第34-37页 |
| 第四章 电场对铁电老化的控制 | 第37-44页 |
| 4.1 实验材料的合成与测试 | 第37-38页 |
| 4.2 实验结果 | 第38-41页 |
| 4.3 数据分析与讨论 | 第41-44页 |
| 第五章 结束语 | 第44-45页 |
| 第六章 总结与展望 | 第45-46页 |
| 参考文献 | 第46-50页 |
| 致谢 | 第50页 |
