| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第12-28页 |
| 1.1 铟的性质和用途 | 第12-14页 |
| 1.1.1 铟的物理性质 | 第12页 |
| 1.1.2 铟的化学性质 | 第12-13页 |
| 1.1.3 铟的用途 | 第13-14页 |
| 1.2 铟的质量标准 | 第14-15页 |
| 1.3 铟的分析检测方法 | 第15-23页 |
| 1.3.1 分光光度法 | 第15页 |
| 1.3.2 火焰原子吸收法 | 第15-17页 |
| 1.3.3 ICP-AES法测定铟中的微量元素 | 第17-19页 |
| 1.3.4 辉光放电质谱法 | 第19-23页 |
| 1.4 标准样品及其制备 | 第23-24页 |
| 1.5 选题的意义和课题研究的目的 | 第24-28页 |
| 1.5.1 选题的意义 | 第24-25页 |
| 1.5.2 课题的研究内容 | 第25-28页 |
| 第二章 实验室质控样品制备的研究 | 第28-48页 |
| 2.1 成分设计 | 第28页 |
| 2.2 实验原料 | 第28-29页 |
| 2.3 辉光放电质谱仪测定铟基体中杂质元素含量的考察 | 第29页 |
| 2.4 质控样品的制备 | 第29-47页 |
| 2.4.1 加热设备的选择 | 第29-30页 |
| 2.4.2 制备实验室质控样品的影响条件 | 第30-46页 |
| 2.4.3 制备实验室质控样品 | 第46-47页 |
| 2.5 本章小结 | 第47-48页 |
| 第三章 样品均匀性的研究 | 第48-74页 |
| 3.1 所用仪器及试剂 | 第49页 |
| 3.1.1 所用仪器 | 第49页 |
| 3.1.2 主要试剂 | 第49页 |
| 3.2 样品的预处理 | 第49-50页 |
| 3.3 GD-MS工作参数的选择 | 第50-57页 |
| 3.3.1 放电电流的影响 | 第50-52页 |
| 3.3.2 放电气体流量的影响 | 第52-55页 |
| 3.3.3 其它参数的选择 | 第55-56页 |
| 3.3.4 预溅射时间的选择 | 第56-57页 |
| 3.4 各元素同位素分辨率的选择 | 第57-58页 |
| 3.5 测定 | 第58页 |
| 3.6 样品均匀性检验 | 第58-72页 |
| 3.6.1 实验设计 | 第58-59页 |
| 3.6.2 数据分析 | 第59-72页 |
| 3.7 本章小结 | 第72-74页 |
| 第四章 样品定值的研究 | 第74-84页 |
| 4.1 主要仪器及试剂 | 第74页 |
| 4.2 样品的处理 | 第74-75页 |
| 4.3 ICP-AES法的优化 | 第75-78页 |
| 4.3.1 分析谱线的选择 | 第75页 |
| 4.3.2 工作参数的选择 | 第75-76页 |
| 4.3.3 标液匹配基体和不匹配基体的实验结果对比 | 第76-77页 |
| 4.3.4 精密度和准确度 | 第77页 |
| 4.3.5 测定 | 第77-78页 |
| 4.3.6 标准曲线 | 第78页 |
| 4.4 质控样品分析 | 第78-79页 |
| 4.5 铟基体杂质元素相对灵敏度因子计算与分析 | 第79-82页 |
| 4.6 本章小结 | 第82-84页 |
| 第五章 结论与展望 | 第84-86页 |
| 5.1 结论 | 第84-85页 |
| 5.2 展望 | 第85-86页 |
| 致谢 | 第86-88页 |
| 参考文献 | 第88-96页 |
| 附录 攻读硕士学位期间科研情况 | 第96页 |