摘要 | 第4-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第11-23页 |
1.1 大型零件的检测现状 | 第11页 |
1.2 无损检测技术 | 第11-14页 |
1.3 超声检测技术 | 第14-16页 |
1.4 超声检测的国内外研究现状 | 第16-21页 |
1.5 本文研究的目的和意义 | 第21页 |
1.6 本文研究的内容及结构安排 | 第21-23页 |
第二章 超声检测原理及大型零件多通道自动超声测控系统设计方案 | 第23-35页 |
2.1 超声波检测原理 | 第23-26页 |
2.1.1 脉冲反射法 | 第23-24页 |
2.1.2 脉冲透射法 | 第24-25页 |
2.1.3 谐振法 | 第25-26页 |
2.2 超声换能器 | 第26-29页 |
2.3 超声波检测的显示方式 | 第29-30页 |
2.4 大型零件多通道自动超声测控系统总体设计方案 | 第30-32页 |
2.5 大型零件多通道自动超声检测系统设计方案 | 第32-33页 |
2.6 大型零件多轴自动控制系统设计方案 | 第33-34页 |
2.7 本章小结 | 第34-35页 |
第三章 超声水浸探头的运动步长和步进轨迹研究 | 第35-51页 |
3.1 超声水浸探头的运动步长研究 | 第35-44页 |
3.1.1 探头的运动步长 | 第35-36页 |
3.1.2 检测效率 | 第36-42页 |
3.1.3 探头的选择 | 第42-44页 |
3.1.4 电机对探头运动轨迹影响的研究 | 第44页 |
3.2 超声波探头运动轨迹控制 | 第44-50页 |
3.2.1 全扫描方式下的运动轨迹控制 | 第44-46页 |
3.2.2 任意形状的运动轨迹控制 | 第46-49页 |
3.2.3 任意形状运动轨迹扫描的优势 | 第49-50页 |
3.3 本章小结 | 第50-51页 |
第四章 多通道自动超声检测系统和多轴自动控制系统的快速切换研究 | 第51-59页 |
4.1 进程与线程的理论及区别 | 第51-53页 |
4.2 多线程应用程序设计 | 第53-55页 |
4.2.1 线程库的主要函数调用 | 第53-54页 |
4.2.2 线程的创建和终止 | 第54页 |
4.2.3 线程的管理 | 第54页 |
4.2.4 线程的互斥 | 第54-55页 |
4.2.5 线程的同步 | 第55页 |
4.3 多通道自动超声检测系统和多轴自动控制系统的切换 | 第55-57页 |
4.3.1 切换的工作方式 | 第55-56页 |
4.3.2 切换的工作过程 | 第56-57页 |
4.4 本章小结 | 第57-59页 |
第五章 检测缺陷的三维图像模型 | 第59-81页 |
5.1 钢板缺陷的类型 | 第60-61页 |
5.2 缺陷的三维重建 | 第61-63页 |
5.3 图像预处理 | 第63-65页 |
5.4 基于Matlab的缺陷三维建模 | 第65-80页 |
5.5 本章小结 | 第80-81页 |
第六章 大型零件多通道自动超声测控系统设计 | 第81-115页 |
6.1 多通道自动超声检测系统的硬件设计 | 第81-93页 |
6.1.1 超声发射电路的设计 | 第81-83页 |
6.1.2 超声接收电路的设计 | 第83-85页 |
6.1.3 模拟选通电路的设计 | 第85页 |
6.1.4 超声信号采集电路的设计 | 第85-92页 |
6.1.5 超声信号处理和传输电路的设计 | 第92-93页 |
6.2 多轴自动控制系统的硬件设计 | 第93-99页 |
6.2.1 自动控制电路的设计 | 第93-94页 |
6.2.2 光电耦合电路的设计 | 第94页 |
6.2.3 步进电机驱动器电路的设计 | 第94-96页 |
6.2.4 系统电源模块的设计 | 第96-99页 |
6.3 超声信号采集控制电路(FPGA)的软件设计 | 第99-103页 |
6.3.1 FPGA的软件设计 | 第99-101页 |
6.3.2 超声发射控制模块的设计 | 第101页 |
6.3.3 超声通道选通模块的设计 | 第101-102页 |
6.3.4 A/D转换控制模块的设计 | 第102页 |
6.3.5 超声回波数据存储模块的设计 | 第102-103页 |
6.4 超声信号处理传输电路(ARM)的软件设计 | 第103-104页 |
6.5 驱动程序的设计 | 第104-106页 |
6.5.1 以太网驱动程序的设计 | 第104-105页 |
6.5.2 超声采集控制驱动程序的设计 | 第105页 |
6.5.3 运动控制驱动程序的设计 | 第105-106页 |
6.6 上位机软件的设计 | 第106-111页 |
6.6.1 LabVIEW软件简介 | 第106-107页 |
6.6.2 上位机软件的整体设计 | 第107-109页 |
6.6.3 上位机软件的功能介绍 | 第109-111页 |
6.7 A/B/C扫描成像结果显示模块设计 | 第111-113页 |
6.7.1 A扫描结果显示模块设计 | 第111-112页 |
6.7.2 B扫描结果显示模块设计 | 第112-113页 |
6.7.3 C扫描结果显示模块设计 | 第113页 |
6.8 本章小结 | 第113-115页 |
第七章 系统调试与实验 | 第115-133页 |
7.1 实验平台的搭建 | 第115-116页 |
7.2 系统的硬件调试 | 第116-117页 |
7.3 系统的软件调试 | 第117-124页 |
7.3.1 FPGA软件调试 | 第117-119页 |
7.3.2 ARM软件调试 | 第119-121页 |
7.3.3 上位机软件调试 | 第121-122页 |
7.3.4 通信软件的调试 | 第122-124页 |
7.4 实验结果及结果分析 | 第124-132页 |
7.5 本章小结 | 第132-133页 |
第八章 总结与展望 | 第133-135页 |
8.1 总结 | 第133-134页 |
8.2 展望 | 第134-135页 |
参考文献 | 第135-143页 |
发表论文和科研情况 | 第143-145页 |
致谢 | 第145页 |