| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 第1章 绪论 | 第16-31页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第16-17页 |
| 1.2 聚酰亚胺材料概述 | 第17-19页 |
| 1.3 聚酰亚胺基纳米复合薄膜研究进展 | 第19-22页 |
| 1.4 纳米电介质材料空间电荷研究进展 | 第22-24页 |
| 1.4.1 电声脉冲法研究纳米电介质空间电荷特性 | 第22-23页 |
| 1.4.2 热激电流法研究纳米电介质空间电荷特性 | 第23-24页 |
| 1.4.3 光激电流法研究纳米电介质空间电荷特性 | 第24页 |
| 1.5 电介质材料界面结构研究进展 | 第24-28页 |
| 1.5.1 纳米电介质界面模型 | 第24-27页 |
| 1.5.2 多层电介质材料层间界面研究进展 | 第27-28页 |
| 1.6 聚酰亚胺基纳米电介质耐电晕机理研究 | 第28-29页 |
| 1.7 课题来源及主要研究内容 | 第29-31页 |
| 1.7.1 课题来源 | 第29页 |
| 1.7.2 主要研究内容 | 第29-31页 |
| 第2章 PI/Al_2O_3复合薄膜的制备及表征 | 第31-42页 |
| 2.1 实验原料及主要仪器设备 | 第31-32页 |
| 2.1.1 实验原料 | 第31页 |
| 2.1.2 主要仪器与设备 | 第31-32页 |
| 2.2 纯PI膜及PI/Al_2O_3单层复合薄膜的制备 | 第32-35页 |
| 2.2.1 纯PI薄膜的制备 | 第33-34页 |
| 2.2.2 PI/Al_2O_3单层复合薄膜的制备 | 第34-35页 |
| 2.3 PI/Al_2O_3三层复合薄膜的制备 | 第35-36页 |
| 2.4 PI/Al_2O_3复合薄膜结构表征与性能测试 | 第36-40页 |
| 2.4.1 红外光谱表征 | 第36页 |
| 2.4.2 X射线衍射表征 | 第36-37页 |
| 2.4.3 透射电子显微镜表征 | 第37页 |
| 2.4.4 扫描电子显微镜表征 | 第37页 |
| 2.4.5 力学性能测试 | 第37页 |
| 2.4.6 热学性能测试 | 第37-38页 |
| 2.4.7 介电性能测试 | 第38页 |
| 2.4.8 击穿场强测试 | 第38页 |
| 2.4.9 耐电晕性能测试 | 第38页 |
| 2.4.10 空间电荷特性测试 | 第38-39页 |
| 2.4.11 热激电流特性测试 | 第39-40页 |
| 2.4.12 光激电流特性测试 | 第40页 |
| 2.5 本章小结 | 第40-42页 |
| 第3章 PI/Al_2O_3单层复合薄膜结构表征及性能分析 | 第42-58页 |
| 3.1 PI/Al_2O_3单层复合薄膜的化学及微结构表征 | 第42-45页 |
| 3.1.1 单层复合薄膜红外光谱表征 | 第42-43页 |
| 3.1.2 单层复合薄膜X射线衍射表征 | 第43-44页 |
| 3.1.3 单层复合薄膜微观形貌特征 | 第44-45页 |
| 3.2 PI/Al_2O_3单层复合薄膜性能分析 | 第45-56页 |
| 3.2.1 单层复合薄膜力学性能分析 | 第45-47页 |
| 3.2.2 单层复合薄膜热学性能分析 | 第47-51页 |
| 3.2.3 单层复合薄膜介电谱分析 | 第51-53页 |
| 3.2.4 单层复合薄膜击穿场强分析 | 第53-54页 |
| 3.2.5 单层复合薄膜耐电晕时间分析 | 第54-56页 |
| 3.3 本章小结 | 第56-58页 |
| 第4章 PI/Al_2O_3三层复合薄膜的结构表征及力、热性能分析 | 第58-71页 |
| 4.1 PI/Al_2O_3三层复合薄膜的化学及微观结构表征 | 第58-64页 |
| 4.1.1 三层复合薄膜红外光谱表征 | 第58-59页 |
| 4.1.2 三层复合薄膜X射线衍射表征 | 第59-60页 |
| 4.1.3 三层复合薄膜微观形貌特征 | 第60-64页 |
| 4.2 PI/Al_2O_3三层复合薄膜力、热性能分析 | 第64-69页 |
| 4.2.1 三层复合薄膜力学性能分析 | 第64-66页 |
| 4.2.2 三层复合薄膜热学性能分析 | 第66-69页 |
| 4.3 本章小结 | 第69-71页 |
| 第5章 PI/Al_2O_3三层复合薄膜层间界面结构与其电学性能研究 | 第71-110页 |
| 5.1 单、三层PI/Al_2O_3复合薄膜空间电荷特性对比研究 | 第71-83页 |
| 5.1.1 PI/Al_2O_3复合薄膜加压时空间电荷特性 | 第72-76页 |
| 5.1.2 PI/Al_2O_3复合薄膜短路时空间电荷特性 | 第76-80页 |
| 5.1.3 不同场强对PI/Al_2O_3薄膜空间电荷特性的影响 | 第80-83页 |
| 5.2 PI/Al_2O_3复合薄膜陷阱特性研究 | 第83-90页 |
| 5.2.1 PI/Al_2O_3复合薄膜热激电流分析 | 第84-88页 |
| 5.2.2 PI/Al_2O_3复合薄膜光激电流分析 | 第88-90页 |
| 5.3 PI/Al_2O_3三层复合薄膜介电谱分析 | 第90-95页 |
| 5.4 PI/Al_2O_3三层复合薄膜击穿场强分析 | 第95-98页 |
| 5.5 PI/Al_2O_3三层复合薄膜耐电晕性能分析 | 第98-109页 |
| 5.5.1 三层复合薄膜耐电晕时间分析 | 第98-101页 |
| 5.5.2 PI/Al_2O_3复合薄膜电晕老化前后表面形貌变化 | 第101-106页 |
| 5.5.3 PI/Al_2O_3三层复合薄膜电晕击穿孔形貌特点 | 第106-109页 |
| 5.6 本章小结 | 第109-110页 |
| 结论 | 第110-112页 |
| 本文的创新点 | 第112-113页 |
| 参考文献 | 第113-124页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第124-125页 |
| 致谢 | 第125页 |
