半导体生产自动化应用软件功能测试的研究与实现
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·选题背景 | 第7-8页 |
| ·研究目的及意义 | 第8页 |
| ·国内外研究现状 | 第8-10页 |
| ·论文工作内容及组织结构 | 第10-13页 |
| 第二章 相关技术概述 | 第13-19页 |
| ·软件测试的必要性及目的 | 第13-14页 |
| ·软件测试模型 | 第14-15页 |
| ·黑盒测试方法 | 第15-16页 |
| ·软件测试的种类 | 第16-17页 |
| ·软件测试的阶段 | 第17-18页 |
| ·本章小结 | 第18-19页 |
| 第三章 半导体应用软件测试分析 | 第19-31页 |
| ·半导体应用软件测试特点 | 第19页 |
| ·传统测试模型及弊端 | 第19-20页 |
| ·新测试模型设计 | 第20-23页 |
| ·新测试模型的应用 | 第23-30页 |
| ·ADC 系统介绍 | 第23-24页 |
| ·ADC 系统体系结构 | 第24-25页 |
| ·ADC 系统功能结构 | 第25-26页 |
| ·ADC 系统测试需求 | 第26-28页 |
| ·ADC 系统测试计划 | 第28-30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 第四章 ADC 系统测试方案设计 | 第31-47页 |
| ·测试方案设计 | 第31页 |
| ·Story 划分与澄清 | 第31-34页 |
| ·Story 的划分 | 第31-33页 |
| ·Story 的澄清 | 第33-34页 |
| ·ADC 系统测试用例设计 | 第34-44页 |
| ·安全性测试 | 第34-36页 |
| ·功能测试 | 第36-43页 |
| ·GUI 测试 | 第43-44页 |
| ·ADC 系统测试用例评审 | 第44-45页 |
| ·本章小结 | 第45-47页 |
| 第五章 ADC 系统测试及分析 | 第47-57页 |
| ·测试系统配置 | 第47-48页 |
| ·系统环境配置 | 第47-48页 |
| ·缺陷管理工具 ClearQuest | 第48页 |
| ·ADC 系统测试过程 | 第48-52页 |
| ·测试工作总结 | 第52-53页 |
| ·测试结果分析 | 第53-56页 |
| ·测试结果评估 | 第53-54页 |
| ·新模型测试与传统模型测试的比较 | 第54-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 第六章 结束语 | 第57-59页 |
| ·论文工作总结 | 第57-58页 |
| ·后续工作展望 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-63页 |
