| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 引言 | 第7-13页 |
| ·惯性约束核聚变简介 | 第7-8页 |
| ·利用X射线谱研究高温高密等离子体状态的意义 | 第8-9页 |
| ·国内外研究状况 | 第9-11页 |
| ·本文的主要研究内容与方法 | 第11-13页 |
| 第二章 高温等离子体光谱的理论方法 | 第13-19页 |
| ·综述 | 第13页 |
| ·局域热动平衡模型(LTE) | 第13-15页 |
| ·非局域热动平衡模型(NLTE) | 第15-17页 |
| ·激光等离子体发射谱特性 | 第17-19页 |
| 第三章 各原子过程对于碰撞辐射模型计算结果的影响 | 第19-45页 |
| ·原子过程的分类及细致平衡原理 | 第19-33页 |
| ·原子能级与自发辐射 | 第22-23页 |
| ·电子碰撞激发与退激发 | 第23-25页 |
| ·电子碰撞离化与三体复合 | 第25-28页 |
| ·光离化与辐射复合 | 第28-32页 |
| ·自电离与电子俘获 | 第32-33页 |
| ·光激发与光退激发 | 第33页 |
| ·非局域热动平衡模型理论 | 第33-45页 |
| ·低Z元素铝K壳层碰撞辐射模型程序的建立 | 第34-36页 |
| ·各个原子过程精度对离化平衡,平均离化度,发射谱线强度的影响 | 第36-45页 |
| 第四章 实验室产生的高温高密等离子体温度密度的诊断 | 第45-64页 |
| ·光谱诊断的一般方法 | 第45-53页 |
| ·连续谱诊断 | 第45-46页 |
| ·线谱诊断 | 第46-53页 |
| ·用于诊断电子温度密度的线谱 | 第48-49页 |
| ·线谱诊断电子温度密度的方法 | 第49-53页 |
| ·类锂伴线布居机制分析及诊断应用 | 第53-55页 |
| ·类锂伴线的主要布居机制分析 | 第53-54页 |
| ·类锂伴线的诊断应用 | 第54-55页 |
| ·高密度下互组合线诊断方法的偏差 | 第55-57页 |
| ·基于K壳层碰撞辐射模型的实验诊断 | 第57-64页 |
| ·SILEX Ⅰ激光装置上的实验数据分析 | 第57-62页 |
| ·神光Ⅱ激光装置上的实验数据分析 | 第62-64页 |
| 第五章 全文总结与展望 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 攻读硕士期间发表的文章 | 第74页 |