摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-6页 |
目录 | 第6-8页 |
第1章 绪论 | 第8-12页 |
·课题研究的背景及意义 | 第8-9页 |
·国内外研究状况及发展 | 第9-10页 |
·主要研究内容 | 第10-12页 |
第2章 TOFD 检测技术的基本原理 | 第12-20页 |
·TOFD 检测技术的理论基础 | 第12-14页 |
·TOFD 技术检测原理 | 第12-13页 |
·缺陷高度尺寸的 TOFD 测量技术 | 第13-14页 |
·TOFD 成像与扫查方式 | 第14-15页 |
·TOFD 灰度成像原理 | 第14-15页 |
·TOFD 成像方式 | 第15页 |
·TOFD 技术特点 | 第15-16页 |
·TOFD 检测关键工艺参数 | 第16-20页 |
·探头频率及晶片尺寸 | 第17-18页 |
·楔块角度、探头间距(PCS) | 第18-20页 |
第3章 厚壁压力容器的 TOFD 检测 CIVA 仿真与工艺研究 | 第20-52页 |
·TOFD 声场 CIVA 仿真 | 第21-31页 |
·CIVA 软件介绍 | 第21页 |
·GTD 计算模型 | 第21-23页 |
·TOFD 声场仿真 | 第23-24页 |
·关键工艺参数对声场影响的仿真 | 第24-30页 |
·TOFD 检测工艺设计流程 | 第30-31页 |
·厚度 150mm 平板对接焊缝 CIVA 仿真 | 第31-38页 |
·仿真工艺参数设置 | 第31-35页 |
·仿真结果与分析 | 第35-38页 |
·带缺陷的厚壁对比试块试验验证 | 第38-41页 |
·横向缺陷 TOFD 检测仿真 | 第41-43页 |
·TOFD 检测盲区的其他无损检测方法补充 | 第43-50页 |
·TOFD 直通波盲区 | 第43-49页 |
·TOFD 底面盲区 | 第49-50页 |
·研究小结 | 第50页 |
·本章小结 | 第50-52页 |
第4章 非平行扫查与斜向 45°非平行扫查装置 | 第52-60页 |
·扫查装置改进的目的 | 第52页 |
·TOFD 扫查装置设计 | 第52-58页 |
·TOFD 扫查装置样机及试用 | 第58-59页 |
·本章小结 | 第59-60页 |
第5章 厚壁压力容器 TOFD 检测工程应用 | 第60-76页 |
·工艺参数设置 | 第60-61页 |
·检测设备及检测步骤 | 第61-62页 |
·检测结果与分析 | 第62-66页 |
·TOFD 检测结果图谱分析 | 第66-74页 |
·本章小结 | 第74-76页 |
第6章 结论与展望 | 第76-78页 |
参考文献 | 第78-81页 |
发表论文和参加科研情况 | 第81-82页 |
致谢 | 第82-83页 |