统计过程控制在南平公司邦定制程中的应用研究
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-8页 |
1 绪论 | 第8-14页 |
·选题背景 | 第8-9页 |
·研究的目的与意义 | 第9-10页 |
·国内外相关研究综述 | 第10-12页 |
·论文框架与研究内容 | 第12-14页 |
2 统计过程控制理论与应用 | 第14-25页 |
·统计过程控制简介 | 第14-15页 |
·自助法的理论分析 | 第15-17页 |
·样本容量对自助法准确性的影响 | 第17-19页 |
·统计过程分析与统计过程控制的控制图应用 | 第19-25页 |
3 南平芯片邦定制程统计过程控制方案设计 | 第25-39页 |
·芯片邦定拉力测试介绍 | 第25-26页 |
·统计过程控制在芯片封装邦定过程中的应用 | 第26-31页 |
·自助法在南平芯片封装邦定过程中的作用 | 第31-32页 |
·基于自助法的南平邦定拉力过程能力指数 | 第32-36页 |
·自助法控制图在南平公司邦定拉力控制中的应用 | 第36-39页 |
4 南平芯片邦定制程统计过程控制方案实施与改进 | 第39-50页 |
·南平邦定拉力统计过程控制方案的具体实施 | 第39-43页 |
·南平邦定拉力统计过程控制实施效果分析 | 第43-47页 |
·南平芯片邦定统计过程控制方案改进建议 | 第47-50页 |
结束语 | 第50-51页 |
致谢 | 第51-52页 |
参考文献 | 第52-55页 |