开关磁阻电机调速系统可靠性设计分析
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 图清单 | 第10-13页 |
| 表清单 | 第13-14页 |
| 注释表 | 第14-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-23页 |
| ·开关磁阻电机起源、发展与研究现状 | 第16-18页 |
| ·本课题的研究现状、目的及意义 | 第18-21页 |
| ·本课题研究内容与特点 | 第21-23页 |
| 第二章 可靠性理论基础 | 第23-32页 |
| ·可靠性起源与发展 | 第23-25页 |
| ·可靠性起源与发展 | 第23-24页 |
| ·可靠性在我国发展情况 | 第24-25页 |
| ·可靠性度量尺度 | 第25-26页 |
| ·几种常见的可靠性概率分布模型 | 第26-27页 |
| ·二项分布 | 第26页 |
| ·泊松分布 | 第26页 |
| ·指数分布 | 第26页 |
| ·正态分布 | 第26-27页 |
| ·威布尔分布 | 第27页 |
| ·正弦分布 | 第27页 |
| ·可靠性研究模型及研究方法 | 第27-31页 |
| ·系统可靠性研究模型 | 第27-29页 |
| ·串联模型 | 第27-28页 |
| ·并联模型 | 第28页 |
| ·k/n 表决模型 | 第28-29页 |
| ·可靠性研究方法 | 第29-31页 |
| ·应力-强度模型分析法 | 第29-30页 |
| ·蒙特-卡罗法 | 第30页 |
| ·有限元分析法 | 第30页 |
| ·故障树分析法 | 第30-31页 |
| ·小结 | 第31-32页 |
| 第三章 开关磁阻电机本体可靠性设计分析 | 第32-47页 |
| ·电机本体结构与电磁优化设计 | 第32-34页 |
| ·SRM 工作原理 | 第32页 |
| ·本体电磁优化设计 | 第32-34页 |
| ·仿真结果及其分析验证 | 第34-36页 |
| ·SRM 本体可靠性建模 | 第36-42页 |
| ·绝缘绕组可靠性建模 | 第36-38页 |
| ·绝缘绕组失效分析 | 第36-37页 |
| ·低压大电流下电机绕组寿命模型 | 第37页 |
| ·SRM 绕组绝缘失效模型 | 第37-38页 |
| ·轴承可靠性建模 | 第38-42页 |
| ·轴承失效机理分析 | 第39页 |
| ·轴承的疲劳寿命分布模型 | 第39-41页 |
| ·疲劳应力-寿命三参数模型 | 第41-42页 |
| ·电机绕组连接方式对轴承可靠性影响分析 | 第42-46页 |
| ·小偏心情况下电磁力对比分析 | 第42-43页 |
| ·不同绕组连结方式下轴承可靠性对比分析 | 第43-46页 |
| ·小结 | 第46-47页 |
| 第四章 功率变换器可靠性设计分析 | 第47-64页 |
| ·功率变换器研究现状与意义 | 第47-48页 |
| ·变换器可靠性研究背景 | 第47页 |
| ·变换器研究现状 | 第47-48页 |
| ·几种常见的功率变换器特性分析 | 第48-54页 |
| ·几种常见变换器原理简介 | 第48-52页 |
| ·不对称半桥电路及其改进形式 | 第48-49页 |
| ·裂相式变换器及其改进形式 | 第49-50页 |
| ·能耗式主电路 | 第50-51页 |
| ·电感储能式主电路 | 第51页 |
| ·电容储能式主电路 | 第51页 |
| ·三开关变换器 | 第51-52页 |
| ·几种常见变换器性能对比 | 第52-54页 |
| ·可靠性设计与建模 | 第54-60页 |
| ·器件的选择 | 第55-58页 |
| ·开关管的选取 | 第55-57页 |
| ·续流二极管的选择 | 第57-58页 |
| ·母线电容的选择 | 第58页 |
| ·典型器件可靠性模型 | 第58-59页 |
| ·MOS 的可靠性模型 | 第58页 |
| ·DIODE 的可靠性模型 | 第58-59页 |
| ·电解电容的可靠性模型 | 第59页 |
| ·变换器可靠性框图的建立 | 第59-60页 |
| ·几种变换器性能可靠性对比 | 第60页 |
| ·不对称半桥变换器可靠性设计分析 | 第60-63页 |
| ·可靠性指标分配 | 第60-61页 |
| ·变换器各器件可靠性设计 | 第61-63页 |
| ·应力分析与损耗计算 | 第61-62页 |
| ·器件可靠性设计 | 第62-63页 |
| ·不对称变换器可靠性预计 | 第63页 |
| ·小结 | 第63-64页 |
| 第五章 控制器可靠性设计分析 | 第64-73页 |
| ·控制器可靠性设计 | 第64-67页 |
| ·控制器可靠性设计概要 | 第64-65页 |
| ·不同PWM 控制策略对控制器可靠性的影响 | 第65-67页 |
| ·斩单管与斩双管比较 | 第65-66页 |
| ·轮流斩单管与移相式斩波方式 | 第66-67页 |
| ·几种斩波方式对变换器可靠性影响对比 | 第67页 |
| ·控制器性能设计与验证 | 第67-70页 |
| ·控制系统原理图设计 | 第68-70页 |
| ·控制器的性能验证 | 第70页 |
| ·控制器可靠性分析预计 | 第70-72页 |
| ·控制器可靠性框图 | 第71页 |
| ·基于器件计数法的控制器可靠性分析预计 | 第71-72页 |
| ·小结 | 第72-73页 |
| 第六章 系统可靠性设计分析 | 第73-83页 |
| ·系统故障分析 | 第73-79页 |
| ·SRM 绕组故障模式及其对系统的影响 | 第73-74页 |
| ·系统FMECA 故障分析 | 第74-76页 |
| ·FMECA 分析方法简介 | 第74-75页 |
| ·系统FMEA 分析 | 第75-76页 |
| ·基于故障树法的系统分析 | 第76-79页 |
| ·故障树的建立 | 第76-78页 |
| ·故障树定性分析 | 第78-79页 |
| ·双通道容错控制系统 | 第79-82页 |
| ·双通道容错系统设计 | 第79-80页 |
| ·单、双通道系统可靠性对比分析 | 第80-82页 |
| ·单、双通道可靠性框图 | 第80-81页 |
| ·单、双通道系统可靠性对比分析 | 第81-82页 |
| ·小结 | 第82-83页 |
| 第七章 全文总结与展望 | 第83-85页 |
| ·全文总结 | 第83-84页 |
| ·不足与展望 | 第84-85页 |
| 参考文献 | 第85-90页 |
| 致谢 | 第90-91页 |
| 在学期间获得的荣誉及发表的学术论文 | 第91-92页 |
| 附录1： 常用电子元器件的推荐降额因子表 | 第92-94页 |
| 附录2： 续流二极管Π参数表 | 第94-95页 |
| 附录3： MOS 管Π参数表 | 第95-96页 |
| 附录4： 铝电解电容Π参数表 | 第96页 |
