嵌入式存储器内建自修复技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-18页 |
| ·课题背景 | 第12-13页 |
| ·嵌入式存储器的发展趋势 | 第12页 |
| ·MBIST 成为测试技术的主流 | 第12-13页 |
| ·存储器自修复简介 | 第13-15页 |
| ·基本概念 | 第13-14页 |
| ·研究现状 | 第14-15页 |
| ·课题意义 | 第15-16页 |
| ·本文的主要工作及结构 | 第16-18页 |
| 第二章 MBISR 系统的原理与结构 | 第18-24页 |
| ·功能故障模型 | 第18-19页 |
| ·BISR 的结构 | 第19-22页 |
| ·BIST 电路 | 第19-20页 |
| ·测试算法 | 第20-21页 |
| ·冗余分析模块与冗余资源 | 第21-22页 |
| ·内建自修复算法 | 第22-24页 |
| 第三章 改进的存储器内建自修复方法 | 第24-38页 |
| ·CRESTA 算法概述 | 第24-26页 |
| ·改进的CRESTA 算法 | 第26-28页 |
| ·预备知识 | 第26-27页 |
| ·改进算法的实现 | 第27-28页 |
| ·存储器内建自修复系统设计 | 第28-33页 |
| ·MBISR 系统结构 | 第29-30页 |
| ·MBIST 电路设计 | 第30-32页 |
| ·LFSR 地址发生器 | 第32-33页 |
| ·实验结果分析 | 第33-37页 |
| ·存储器故障注入 | 第34页 |
| ·LFSR 地址发生器时序仿真图 | 第34页 |
| ·内建自测试电路仿真结果 | 第34-35页 |
| ·内建冗余分析仿真结果 | 第35页 |
| ·修复后存储器读写仿真图 | 第35-36页 |
| ·冗余分析时间的比较 | 第36页 |
| ·冗余分析模块的面积开销 | 第36-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 第四章 纠错码在存储器自修复中的应用 | 第38-52页 |
| ·纠错码概述 | 第38-40页 |
| ·线性分组码的基本概念 | 第38-39页 |
| ·线性码生成矩阵和一致监督矩阵 | 第39页 |
| ·汉明码 | 第39-40页 |
| ·基于纠错码的存储器自修复 | 第40-41页 |
| ·纠错码在存储器容错中的应用 | 第40-41页 |
| ·改进的内建自修复方案 | 第41页 |
| ·基于纠错码的存储器自修复系统设计 | 第41-48页 |
| ·MBISR 系统设计 | 第42页 |
| ·可编程MBIST 的设计 | 第42-46页 |
| ·编码、译码电路的设计 | 第46-48页 |
| ·实验结果分析 | 第48-51页 |
| ·存储器故障注入 | 第48页 |
| ·可编程MBIST 仿真结果 | 第48-49页 |
| ·编码、译码仿真波形 | 第49-50页 |
| ·修复后存储器读写时序 | 第50页 |
| ·面积开销 | 第50-51页 |
| ·系统最大工作频率 | 第51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第五章 总结与展望 | 第52-54页 |
| ·主要工作总结 | 第52页 |
| ·后续研究建议 | 第52-54页 |
| 参考文献 | 第54-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第60页 |
