中文摘要 | 第1-5页 |
英文摘要 | 第5-10页 |
1 绪论 | 第10-32页 |
·纳米科技概述 | 第10-13页 |
·扫描探针显微镜家族 | 第13-24页 |
·扫描隧道显微镜(STM) | 第14-16页 |
·原子力显微镜 | 第16-17页 |
·在STM 和AFM 基础上发展起来的其他扫描探针显微镜 | 第17-24页 |
·SPM 的主要应用 | 第24-29页 |
·在生物技术方面的应用 | 第24-26页 |
·在表面结构观察和分析中的应用 | 第26-27页 |
·在纳米加工领域的应用 | 第27-29页 |
·SPM 中的图像增强 | 第29页 |
·本论文的主要研究内容 | 第29-32页 |
2 原子力显微术基础理论和方法 | 第32-58页 |
·原子力作用机理 | 第32-34页 |
·原子间力 | 第32-33页 |
·分子间力 | 第33页 |
·与AFM 有关的力 | 第33-34页 |
·AFM 成像的基本原理 | 第34-35页 |
·力-距离曲线 | 第35-39页 |
·接触式力曲线 | 第36-37页 |
·轻敲式力曲线 | 第37-38页 |
·力分布成像 | 第38-39页 |
·微悬臂形变位移理论 | 第39-44页 |
·弹性恢复力作用时的变形位移 | 第39-40页 |
·针尖—样品间原子力作用时的变形位移 | 第40-44页 |
·微悬臂形变检测 | 第44-50页 |
·隧道电流检测法 | 第44-49页 |
·光束偏转法 | 第49-50页 |
·AFM 的操作模式 | 第50-51页 |
·恒力模式 | 第50页 |
·恒高模式 | 第50-51页 |
·恒梯度模式 | 第51页 |
·AFM 的成像模式 | 第51-54页 |
·接触模式 | 第51-52页 |
·非接触模式 | 第52页 |
·轻敲模式 | 第52-54页 |
·AFM 图像表征 | 第54-58页 |
·图像数字化 | 第54-55页 |
·图像增强 | 第55-58页 |
3 AFM.IPC-208B型机原理及系统设计 | 第58-78页 |
·系统组成及技术指标 | 第58-59页 |
·镜体 | 第59-66页 |
·微悬臂微位移检测装置 | 第61-64页 |
·压电陶瓷扫描器 | 第64-66页 |
·数据采集与控制系统 | 第66-73页 |
·前置放大器 | 第67页 |
·对数放大部分 | 第67-69页 |
·控制器设计 | 第69-72页 |
·信号调理电路 | 第72-73页 |
·扫描范围程控调节系统 | 第73-74页 |
·低通与高通滤波 | 第74-78页 |
4 AFM 图像的小波增强处理 | 第78-98页 |
·小波基本理论 | 第78-85页 |
·连续小波变换 | 第79-80页 |
·离散小波变换 | 第80页 |
·二进小波变换 | 第80-81页 |
·多分辨率分析 | 第81-82页 |
·Mallat 算法 | 第82-85页 |
·小波变换下的图像去噪理论 | 第85-90页 |
·信号和噪声在多尺度空间的差异 | 第85-86页 |
·小波阈值去噪方法 | 第86-89页 |
·空域相关去噪方法 | 第89-90页 |
·AFM 图像的小波空域相关去噪 | 第90-98页 |
·AFM 图像质量影响因素分析 | 第90-91页 |
·AFM 图像的小波空域相关去噪算法 | 第91-93页 |
·实验结果 | 第93-98页 |
5 AFM.IPC-208B型机的应用研究 | 第98-108页 |
·AFM.IPC-208B型机分辨率测试 | 第98-100页 |
·对石墨的观察 | 第98页 |
·白云母表面形貌的观察 | 第98-100页 |
·在分子形态学方面的应用 | 第100-103页 |
·V2O5 薄膜表面分子形态的研究 | 第100-102页 |
·TaO 薄膜表面分子形态的研究 | 第102页 |
·TiN 薄膜表面的分子形态研究 | 第102-103页 |
·在生物学中的应用 | 第103-108页 |
·AFM 生物样品制备技术 | 第103-104页 |
·实验过程及结果 | 第104-108页 |
6 总结与展望 | 第108-112页 |
·全文总结 | 第108-109页 |
·展望 | 第109-112页 |
致谢 | 第112-114页 |
参考文献 | 第114-122页 |
附录 | 第122-123页 |