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原子力显微术及其图像增强研究

中文摘要第1-5页
英文摘要第5-10页
1 绪论第10-32页
   ·纳米科技概述第10-13页
   ·扫描探针显微镜家族第13-24页
     ·扫描隧道显微镜(STM)第14-16页
     ·原子力显微镜第16-17页
     ·在STM 和AFM 基础上发展起来的其他扫描探针显微镜第17-24页
   ·SPM 的主要应用第24-29页
     ·在生物技术方面的应用第24-26页
     ·在表面结构观察和分析中的应用第26-27页
     ·在纳米加工领域的应用第27-29页
   ·SPM 中的图像增强第29页
   ·本论文的主要研究内容第29-32页
2 原子力显微术基础理论和方法第32-58页
   ·原子力作用机理第32-34页
     ·原子间力第32-33页
     ·分子间力第33页
     ·与AFM 有关的力第33-34页
   ·AFM 成像的基本原理第34-35页
   ·力-距离曲线第35-39页
     ·接触式力曲线第36-37页
     ·轻敲式力曲线第37-38页
     ·力分布成像第38-39页
   ·微悬臂形变位移理论第39-44页
     ·弹性恢复力作用时的变形位移第39-40页
     ·针尖—样品间原子力作用时的变形位移第40-44页
   ·微悬臂形变检测第44-50页
     ·隧道电流检测法第44-49页
     ·光束偏转法第49-50页
   ·AFM 的操作模式第50-51页
     ·恒力模式第50页
     ·恒高模式第50-51页
     ·恒梯度模式第51页
   ·AFM 的成像模式第51-54页
     ·接触模式第51-52页
     ·非接触模式第52页
     ·轻敲模式第52-54页
   ·AFM 图像表征第54-58页
     ·图像数字化第54-55页
     ·图像增强第55-58页
3 AFM.IPC-208B型机原理及系统设计第58-78页
   ·系统组成及技术指标第58-59页
   ·镜体第59-66页
     ·微悬臂微位移检测装置第61-64页
     ·压电陶瓷扫描器第64-66页
   ·数据采集与控制系统第66-73页
     ·前置放大器第67页
     ·对数放大部分第67-69页
     ·控制器设计第69-72页
     ·信号调理电路第72-73页
   ·扫描范围程控调节系统第73-74页
   ·低通与高通滤波第74-78页
4 AFM 图像的小波增强处理第78-98页
   ·小波基本理论第78-85页
     ·连续小波变换第79-80页
     ·离散小波变换第80页
     ·二进小波变换第80-81页
     ·多分辨率分析第81-82页
     ·Mallat 算法第82-85页
   ·小波变换下的图像去噪理论第85-90页
     ·信号和噪声在多尺度空间的差异第85-86页
     ·小波阈值去噪方法第86-89页
     ·空域相关去噪方法第89-90页
   ·AFM 图像的小波空域相关去噪第90-98页
     ·AFM 图像质量影响因素分析第90-91页
     ·AFM 图像的小波空域相关去噪算法第91-93页
     ·实验结果第93-98页
5 AFM.IPC-208B型机的应用研究第98-108页
   ·AFM.IPC-208B型机分辨率测试第98-100页
     ·对石墨的观察第98页
     ·白云母表面形貌的观察第98-100页
   ·在分子形态学方面的应用第100-103页
     ·V2O5 薄膜表面分子形态的研究第100-102页
     ·TaO 薄膜表面分子形态的研究第102页
     ·TiN 薄膜表面的分子形态研究第102-103页
   ·在生物学中的应用第103-108页
     ·AFM 生物样品制备技术第103-104页
     ·实验过程及结果第104-108页
6 总结与展望第108-112页
   ·全文总结第108-109页
   ·展望第109-112页
致谢第112-114页
参考文献第114-122页
附录第122-123页

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