| 中文摘要 | 第1-6页 |
| 英文摘要 | 第6-8页 |
| 目录 | 第8-10页 |
| 1 绪论 | 第10-17页 |
| ·引言 | 第10页 |
| ·电阻抗成像技术简介 | 第10-16页 |
| ·EIT成像的研究意义 | 第10-11页 |
| ·EIT的图像重建方式 | 第11-12页 |
| ·EIT成像的问题及难点 | 第12-13页 |
| ·EIT的国内外研究现状 | 第13-15页 |
| ·EIT成像的应用 | 第15-16页 |
| ·本文研究内容 | 第16-17页 |
| 2 电阻抗成像正问题的研究 | 第17-35页 |
| ·EIT工作原理 | 第18-20页 |
| ·EIT的正问题及求解方法 | 第20-21页 |
| ·有限元方法(FEM)的三角单元分析 | 第21-26页 |
| ·网格自动生成的有限元模型 | 第26-28页 |
| ·场域电导率分布变化对边界电位的影响 | 第28-33页 |
| ·场域内某一区域电导率增加 | 第28-30页 |
| ·场域内某一区域电导率减小 | 第30-31页 |
| ·场域内电导率变化区域扩大 | 第31-32页 |
| ·场域内不同区域电导率改变 | 第32-33页 |
| ·本章小结 | 第33-35页 |
| 3 电阻抗成像等位线反投影改进算法的研究 | 第35-55页 |
| ·理论基础 | 第35-36页 |
| ·等位线反投影算法原理 | 第36-45页 |
| ·反投影重建算法的物理概念 | 第36-41页 |
| ·等位线反投影算法原理 | 第41-42页 |
| ·等位线反投影算法的实现 | 第42-45页 |
| ·电阻抗成像等位线反投影算法的改进 | 第45-48页 |
| ·CT中考虑投影路径的反投影算法 | 第45-46页 |
| ·考虑投影路径的电阻抗成像反投影改进算法 | 第46-48页 |
| ·电阻抗成像反投影改进算法性能研究 | 第48-54页 |
| ·同一区域不同电导率 | 第49-50页 |
| ·同一电导率不同区域 | 第50页 |
| ·单个目标 | 第50-53页 |
| ·多个目标 | 第53-54页 |
| ·结论 | 第54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 4 基于LabVIEW电阻抗成像软件平台研究 | 第55-65页 |
| ·LabVIEW软件概述 | 第55-56页 |
| ·有限元自动剖分 | 第56-61页 |
| ·节点编号规律 | 第57-59页 |
| ·三角单元数值编号规律 | 第59-60页 |
| ·高斯消元法求解电位 | 第60-61页 |
| ·正问题求解的程序框图 | 第61-62页 |
| ·电阻抗成像反投影改进算法的程序框图 | 第62-63页 |
| ·本章小结 | 第63-65页 |
| 5 结论与展望 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-73页 |
| 附录:A.作者在攻读硕士学位论文期间发表的学术论文 | 第73-74页 |
| B.作者在攻读硕士学位论文期间参加的科研项目 | 第73-74页 |