4πβ（PPC）-γ（HPGe）反符合测量方法研究
| 摘要 | 第1-3页 |
| Abstract | 第3-6页 |
| 1 引言 | 第6-15页 |
| ·放射性核素活度测量技术发展历史 | 第6-7页 |
| ·放射性核素活度测量技术现状 | 第7-13页 |
| ·4πβ-γ符合测量方法 | 第8-11页 |
| ·数字符合测量方法 | 第11-12页 |
| ·4πβ+4πγ相加测量方法 | 第12-13页 |
| ·论文研究内容 | 第13-15页 |
| 2 原理 | 第15-24页 |
| ·4πβ-γ(HPGe)反符合测量方法原理 | 第15-18页 |
| ·相关修正因子 | 第18-20页 |
| ·死时间修正 | 第19页 |
| ·内转换修正和4πβ正比计数器的γ灵敏度修正 | 第19页 |
| ·丢失反符合信号修正 | 第19-20页 |
| ·本底修正 | 第20页 |
| ·4πβ-γ(HPGe)符合参数测量方法原理 | 第20-21页 |
| ·感兴趣的γ射线的选取 | 第21-22页 |
| ·内转换电子的处理 | 第22-24页 |
| 3 实验装置的研制及调试 | 第24-32页 |
| ·高气压正比计数器 | 第24-28页 |
| ·HPGe探测器 | 第28页 |
| ·屏蔽装置及充气系统 | 第28-29页 |
| ·电子学线路 | 第29-30页 |
| ·实验步骤 | 第30-32页 |
| 4 不确定度分析 | 第32-37页 |
| ·计数统计涨落的不确定度 | 第32-33页 |
| ·衰变参数的不确定度 | 第33页 |
| ·死时间修正引入的不确定度 | 第33页 |
| ·丢失反符合信号修正引入的不确定度 | 第33-34页 |
| ·β效率的不确定度 | 第34页 |
| ·源称重的不确定度 | 第34-35页 |
| ·本底修正引入的不确定度 | 第35页 |
| ·合成标准不确定度 | 第35-36页 |
| ·扩展不确定度 | 第36-37页 |
| 5 ~(133)Ba测量 | 第37-44页 |
| ·~(133)Ba的衰变特点 | 第37-38页 |
| ·样品制备 | 第38页 |
| ·γ射线的选择 | 第38页 |
| ·工作点的选择 | 第38-39页 |
| ·~(133)Ba测量 | 第39-44页 |
| 6 ~(131)I测量 | 第44-50页 |
| ·~(131)I的衰变特点 | 第44页 |
| ·样品制备 | 第44-45页 |
| ·~(131)I测量 | 第45-50页 |
| 7 总结 | 第50-53页 |
| ·4πβ-γ(HPGe)反符合测量方法的优点 | 第50-51页 |
| ·4πβ-γ(HPGe)参数测量方法 | 第51页 |
| ·创新点 | 第51-52页 |
| ·存在的问题及改进意见 | 第52页 |
| ·结论 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-55页 |
| 附录 | 第55-57页 |
| 致谢 | 第57页 |
