基于多项式符号代数的高级测试综合研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-17页 |
| ·项目背景 | 第9-12页 |
| ·课题研究的意义 | 第12-13页 |
| ·课题研究的来源 | 第13-14页 |
| ·高级测试综合的现状 | 第14-15页 |
| ·本文主要工作 | 第15-16页 |
| ·论文组织 | 第16-17页 |
| 第2章 基础知识 | 第17-34页 |
| ·高级综合基本回顾 | 第17-21页 |
| ·调度算法的分类 | 第18-19页 |
| ·列表调度算法 | 第19-20页 |
| ·FDS算法 | 第20-21页 |
| ·最近十年新进展 | 第21-24页 |
| ·基于单目标的高级综合 | 第21-23页 |
| ·基于多目标的高级综合 | 第23页 |
| ·基于新模型的高级综合 | 第23-24页 |
| ·高级综合工具的发展 | 第24页 |
| ·测试问题的产生 | 第24-25页 |
| ·各种测试技术简介 | 第25-31页 |
| ·故障模型 | 第25-26页 |
| ·可测试性分析 | 第26-27页 |
| ·测试产生 | 第27-29页 |
| ·时延测试 | 第29-30页 |
| ·IDDQ测试 | 第30页 |
| ·存储器测试 | 第30-31页 |
| ·可测试性设计技术 | 第31-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 第3章 高级测试综合研究进展 | 第34-44页 |
| ·简介 | 第34-36页 |
| ·基本定义 | 第36-37页 |
| ·基于ATPG的高级综合 | 第37-39页 |
| ·基于BIST的高级综合 | 第39-40页 |
| ·基于可测性的高级综合 | 第40-43页 |
| ·可测试性方案选择 | 第40页 |
| ·测试结构的插入 | 第40-41页 |
| ·电路验证 | 第41-42页 |
| ·测试处理的准备 | 第42-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第4章 基于 PSA的高级测试综合研究 | 第44-59页 |
| ·多项式符号代数理论 | 第44-48页 |
| ·几个基本概念 | 第45-46页 |
| ·Grobner理论 | 第46-48页 |
| ·组合电路的多项式描述 | 第48-49页 |
| ·可测结构电路的多项式描述 | 第49-52页 |
| ·基于 PSA的资源共享 | 第52-55页 |
| ·单变元多项式分解 | 第53页 |
| ·多变元多项式分解 | 第53-55页 |
| ·集成的调度/分配算法 | 第55-56页 |
| ·实验分析 | 第56-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 结论 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-66页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67页 |
