低频1/f噪声在半导体激光器可靠性中的应用
| 提要 | 第1-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-18页 |
| ·半导体激光器的概述 | 第7-11页 |
| ·半导体激光器的发展历程 | 第7-8页 |
| ·半导体激光器的特点 | 第8-9页 |
| ·半导体激光器的应用 | 第9-11页 |
| ·半导体激光器可靠性研究的意义 | 第11-12页 |
| ·半导体激光器可靠性的研究状况 | 第12-16页 |
| ·噪声用于评价半导体可靠性的优点 | 第16-17页 |
| ·本论文的主要工作 | 第17-18页 |
| 第二章 半导体激光器的结构和基本原理 | 第18-32页 |
| ·半导体激光器的基本原理 | 第18-19页 |
| ·半导体激光器的几种基本结构 | 第19-27页 |
| ·双异质结激光器 | 第19-21页 |
| ·条形激光器 | 第21-22页 |
| ·量子阱激光器 | 第22-24页 |
| ·表面发射激光器 | 第24-27页 |
| ·高功率量子阱半导体激光器的工艺制作 | 第27-32页 |
| 第三章 半导体激光器噪声的概述 | 第32-45页 |
| ·电噪声的种类 | 第32-37页 |
| ·热噪声 | 第33-34页 |
| ·散弹噪声 | 第34-35页 |
| ·g-r 噪声 | 第35-36页 |
| ·1/f 噪声 | 第36-37页 |
| ·电噪声的应用 | 第37-38页 |
| ·电噪声用于测量激光器阈值电流和弛豫振荡频率 | 第37页 |
| ·低频电噪声用于监测模式跳变 | 第37-38页 |
| ·电噪声对激光器可靠性估计 | 第38页 |
| ·噪声的测试方法 | 第38-45页 |
| ·直接测量法 | 第38-39页 |
| ·互谱测量法 | 第39-41页 |
| ·基于PC 机的数字测量法 | 第41页 |
| ·多通道测量法 | 第41-42页 |
| ·干涉测量法 | 第42-45页 |
| 第四章 半导体激光器的可靠性表述及退化机制 | 第45-55页 |
| ·半导体激光器失效的模式 | 第45-47页 |
| ·影响半导体激光器的退化因素 | 第47-51页 |
| ·腔面的退化 | 第47-48页 |
| ·缺陷在有源区内形成 | 第48-49页 |
| ·欧姆接触的退化 | 第49页 |
| ·过载失效 | 第49-50页 |
| ·工作条件对器件退化的影响 | 第50-51页 |
| ·工艺上提高半导体激光器可靠性的措施 | 第51页 |
| ·安全使用半导体激光器以提高其可靠性 | 第51-53页 |
| ·选择较好的半导体激光器电源 | 第51-52页 |
| ·防止器件过载 | 第52页 |
| ·良好的散热系统 | 第52页 |
| ·做好半导体激光器的静电防护 | 第52-53页 |
| ·半导体激光器遭受损坏和破坏的判别 | 第53-55页 |
| 第五章 噪声测试对半导体激光器可靠性的评估 | 第55-65页 |
| ·电、光特性的测试研究分析 | 第55-58页 |
| ·电、光特性测量系统 | 第55页 |
| ·实验过程及讨论 | 第55-57页 |
| ·实验小结 | 第57-58页 |
| ·噪声特性的测试研究 | 第58-65页 |
| ·噪声实验测量系统 | 第58页 |
| ·实验过程及讨论 | 第58-64页 |
| ·实验小结 | 第64-65页 |
| 结论 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-69页 |
| 中文摘要 | 第69-71页 |
| ABSTRACT | 第71-74页 |
| 致谢 | 第74页 |
