基于PVTL变化的集成电流模DC-DC变换器稳定性研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-25页 |
| ·电源管理与集成DC-DC | 第11-12页 |
| ·DC-DC 研究内容 | 第12-18页 |
| ·DC-DC 的工作模式 | 第12-15页 |
| ·DC-DC 的功能单元 | 第15-17页 |
| ·DC-DC 的研究重点 | 第17-18页 |
| ·DC-DC 稳定性研究 | 第18-21页 |
| ·稳定性涵义 | 第18-20页 |
| ·DC-DC 的稳定性研究方法 | 第20-21页 |
| ·章节安排与研究成果 | 第21-25页 |
| 第二章 工艺因素影响(Process) | 第25-39页 |
| ·工艺漂移 | 第25页 |
| ·电压基准原理 | 第25-33页 |
| ·衬底PNP 型基准 | 第26-27页 |
| ·亚阈值型基准 | 第27-28页 |
| ·双阈值型基准 | 第28-29页 |
| ·VGSn 型基准 | 第29-30页 |
| ·△VGSnp 型基准 | 第30-32页 |
| ·电压基准比较 | 第32-33页 |
| ·改进的电流采样电路 | 第33-37页 |
| ·传统电流采样电路分析 | 第33-35页 |
| ·改进的采样电路 | 第35-36页 |
| ·采样结果比较 | 第36-37页 |
| ·本章小结 | 第37-39页 |
| 第三章 电压因素影响(Voltage) | 第39-53页 |
| ·电压变化与亚谐波振荡 | 第39页 |
| ·一种新颖的自适应斜坡补偿 | 第39-43页 |
| ·亚谐波振荡与斜坡补偿 | 第40-41页 |
| ·自适应斜坡补偿原理 | 第41-43页 |
| ·减小斜坡补偿对带载能力的影响 | 第43-50页 |
| ·斜坡补偿对带载能力的影响 | 第44-46页 |
| ·斜坡影响的消除方案 | 第46-48页 |
| ·复合比较器 | 第48-49页 |
| ·试验结果 | 第49-50页 |
| ·本章小结 | 第50-53页 |
| 第四章 温度因素的影响(Temperature) | 第53-69页 |
| ·温度变化与基准温漂 | 第53页 |
| ·带隙基准的温漂分析 | 第53-55页 |
| ·曲率校正 | 第55-57页 |
| ·分段线性校正的带隙基准 | 第57-63页 |
| ·分段线性补偿原理 | 第58-59页 |
| ·电路设计 | 第59-61页 |
| ·仿真结果 | 第61-63页 |
| ·结论 | 第63页 |
| ·二次曲线校正的CMOS 带隙基准 | 第63-68页 |
| ·二阶补偿的原理与实现 | 第63-65页 |
| ·整体电路 | 第65-67页 |
| ·结果与讨论 | 第67页 |
| ·结论 | 第67-68页 |
| ·本章小结 | 第68-69页 |
| 第五章 负载因素的影响(Loading) | 第69-85页 |
| ·负载与环路稳定性和振铃的关系 | 第69页 |
| ·频率稳定性仿真方法 | 第69-75页 |
| ·电流模DC-DC 控制回路的分解 | 第70-71页 |
| ·电流回路稳定性仿真方法 | 第71-72页 |
| ·电压回路稳定性仿真方法 | 第72-75页 |
| ·讨论 | 第75页 |
| ·BUCK 型DC-DC 的抗振铃电路 | 第75-83页 |
| ·振铃的形成 | 第76-78页 |
| ·Buck 型DC-DC 中抗振铃电路的设计 | 第78-81页 |
| ·实验结果与讨论 | 第81-82页 |
| ·结论 | 第82-83页 |
| ·本章小结 | 第83-85页 |
| 第六章 集成DC-DC 稳定性研究前提——可测性 | 第85-101页 |
| ·DC-DC 复杂化与可测性 | 第85-86页 |
| ·一种DC-DC 芯片内建可测性设计 | 第86-93页 |
| ·基本原理 | 第86-87页 |
| ·电路实现 | 第87-92页 |
| ·试验结果 | 第92页 |
| ·结论 | 第92-93页 |
| ·一种低功耗复合比较器的设计方法 | 第93-100页 |
| ·传统的差分电压比较器 | 第93-95页 |
| ·复合比较器设计方法 | 第95-99页 |
| ·结论 | 第99-100页 |
| ·本章小结 | 第100-101页 |
| 结束语 | 第101-104页 |
| 致谢 | 第104-105页 |
| 参考文献 | 第105-115页 |
| 攻读博士学位期间的研究成果 | 第115-116页 |
