| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第1章 引言 | 第8-9页 |
| ·课题研究的背景、目的、意义 | 第8页 |
| ·研究内容及组织形式 | 第8-9页 |
| 第2章 手持式多道能谱仪的现状及前景 | 第9-11页 |
| ·手持式分析仪的基本状况 | 第9页 |
| ·手持式分析仪的背景、现状和发展趋势 | 第9页 |
| ·手持式仪器的特点 | 第9页 |
| ·研究手持式仪器的意义 | 第9页 |
| ·多道能谱仪的现状及前景 | 第9-11页 |
| 第3章 C8051F 系列单片机概述 | 第11-18页 |
| ·C8051F064 单片机的特点 | 第11-12页 |
| ·C8051F064 单片机的结构 | 第12-18页 |
| ·16位 ADC | 第12-15页 |
| ·IIC BUS | 第15页 |
| ·SPI 接口 | 第15页 |
| ·UART 串行接口 | 第15-16页 |
| ·定时计数器 | 第16-18页 |
| 第4章 基于 C8051F064 的手持式能谱仪的硬件设计 | 第18-33页 |
| ·手持式多道谱仪的系统结构 | 第18-19页 |
| ·线性放大器 | 第19-24页 |
| ·线性放大 | 第20-21页 |
| ·有源积分滤波电路 | 第21-22页 |
| ·Sallen Key 电路频谱特性 | 第22-23页 |
| ·线性脉冲放大器波形 | 第23-24页 |
| ·多道脉冲幅度分析器 | 第24-30页 |
| ·历史发展 | 第24-25页 |
| ·工作原理 | 第25-26页 |
| ·峰值检测 | 第26-27页 |
| ·脉冲甄别及控制电路 | 第27-30页 |
| ·脉冲信号幅度的量化—AD 转换 | 第30页 |
| ·手持仪器的数字处理部分 | 第30-33页 |
| ·C8051F06 与手机 nokia3510 液晶的接口 | 第30-31页 |
| ·C8051F064 与键盘控制芯片 zlg7290 的接口 | 第31-32页 |
| ·C8051F064 的串口通讯接口 | 第32页 |
| ·8051F064 的 SPI 通讯接口 | 第32-33页 |
| 第5章 谱仪的软件设计 | 第33-45页 |
| ·整体软件结构 | 第33-35页 |
| ·LCD 显示控制 | 第35-38页 |
| ·LCD 初始化 | 第35-36页 |
| ·LCD 汉字显示控制 | 第36-37页 |
| ·LCD 能谱图显示控制 | 第37-38页 |
| ·键盘处理 | 第38-41页 |
| ·键盘中断处理 | 第38-41页 |
| ·按键信息的处理 | 第41页 |
| ·秒钟定时器设计 | 第41-42页 |
| ·ADC 控制 | 第42-43页 |
| ·ADC 的初始化 | 第42-43页 |
| ·ADC 的中断处理 | 第43页 |
| ·串口通讯处理 | 第43-44页 |
| ·串口通讯初始化 | 第43页 |
| ·串口通讯协议 | 第43-44页 |
| ·通讯实现的结构 | 第44页 |
| ·SD 卡保存数据 | 第44-45页 |
| 第6章 谱仪的性能测试 | 第45-49页 |
| ·整体供电测试 | 第45页 |
| ·应用 BGO 晶体和 NaI 晶体对Γ射线的测量比较 | 第45-48页 |
| ·BGO 晶体和 NaI 晶体对 Cs137 的测量比较 | 第45-46页 |
| ·使用 BGO 晶体和 NaI 晶体对 137Cs 的稳定性测量比较 | 第46-47页 |
| ·BGO 晶体和 NaI 晶体对 Th 样品的测量比较 | 第47-48页 |
| ·使用 BGO 和 NaI 晶体对 137Cs 在不同温度下的测量比较 | 第48-49页 |
| 结论 | 第49-50页 |
| 致谢 | 第50-51页 |
| 参考文献 | 第51-52页 |
| 硕士学习期间发表的论文 | 第52页 |
